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KOBOLD Messring GmbH 301095

ALLWEILER AG  SNF 210ER54E6.7-W1 H 31599/002

waldmann 111 730 000 Lamp 36W T26 Series 24V DC with ballast

waldmann SK1-02-719 Mountin bracket for RL70

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harting 9150006125

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harting 09120123001 ??Q12-M)

harting 9150043113

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spraying systens CF-III

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kendrion KHT609 21080007 50408b1

pomini ??S/N??380??800-110-015-01

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K-PATENTS DTR-M-GP

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buschjost 8020747.0242.024.00

vahle  photo

buschjost 263077.3050.024.00

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siemens  6ES7414-4HM14-0AB0

SIBRE  GH180-08 

balluff BSW 819-494-09K3 

AFM Sensorik GmbH SW600H-RS4-S5/2/4

STAUBLI NO1210411 

STAUBLI NO0624312 

pilz Nr.380601 PssNet SHL 8T Mrp 

hilma 8.2005.2805,1030799,F=84mm,38 09Z

Oerlikon Fairfield  Reducer (FAIRIELD MFG)&S1C566S5 

ACTARIS  typ 233-12-4-72 DN50 PN16/4 BJj11.03 DVGW-DG-430/AS0606"t" Qpe 0.5bar/Pa20mbar:69m3/h

TUENKERS K 40.1 BR2 A10 T12 90?? 

FUNKE+HUSTER EL101-D

wampfler 08-K154-0108 Contain electronic black base 300VX1PX40A

Dr. Thiedig VE50/62/2 600BAR W.NR.4571 200TN60 14 00

Dr. Thiedig VE50/62/2 600BAR W.NR.4571 200TN45.26.00

PMA 25089755 KS90-114-0000D-000

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HBC FEPA-FST 524 micron 6 524-1113470 HBC

HBC Prod Code:micion6 Ser.No.:524-1113469 Voltage:3.6V IP/Nema:65/4 Frequency:433,1000-434,7500 MHz (With battery and charger)

TESCH 2X1uF 40V-100A 365V 02000013 04/05

Alco 0714420 PSC-A1K 0.3/1.2bar PS: 27 bar PT: 30 bar 

tecsis P3297B084029(250bar)

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Pfeiffer Mod:TPR 270 Range:1000-1*10(-4)mbar Mod.-No.:42237747 

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MEROBEL 33600200

MEROBEL 33660500

探针是一小段单链DNA或者RN段(大约是20到500bp)，用于检测与其互补的核酸序列。双链DNA加热变性成为单链，随后用放射性同位素(通常用磷-32)、荧光染料或者酶(如辣根过氧化物酶)标记成为探针。磷-32通常被掺入组成DNA的四种核苷酸之一的磷酸基团中，而荧光染料和酶与核酸序列以共价键相连。

当将探针与样品杂交时，探针和与其互补的核酸(DNA或RNA)序列通过氢键紧密相连，随后，未被杂交的多余探针被洗去。最后，根据探针的标记物种类，可进行放射自显影、荧光发光、酶联化学发光等方法来判断样品中是否，或者何位置含有被测序列(即与探针互补的序列)。

折叠编辑本段技术论坛

探针技术论坛是基于Linux开源理念和Hack共享精神为一站的综合技术交流论坛。

折叠编辑本段电脑方面

一种Web脚本程序，实质上是通过网页编程语言(ASP、PHP、ASP等)实现探测服务器敏感信息的脚本文件，通常用于探测目录、服务器操作系统、CPU数量、Session超时时间、服务器Session变量、 服务器Application变量、组件支持情况、运算速度、磁盘读写速度以及网络连接速度等。

折叠编辑本段测试方面

测试针，用于测试PCBA的一种探针。

表面镀金，内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。

国外比较有名的生产厂家有: QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT

探针的材质:W，ReW,CU、 A+

1.主要采用的材质为W，ReW, 弹性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨损损针长，寿命一般。

2. A+材质的免清针，这种材质弹性较好，测试中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此寿命较长。

探针分类

探针根据电子测试用途可分为:A、光电路板测试探针:未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针，国内大部分的探针产品均可替代进口产品;

B、在线测试探针:PCB线路板安装元器件后的检测探针;高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中，国内部分探针产品已研发成功，可替代进口探针产品;

C、微电子测试探针:即晶圆测试或芯片IC检测探针，核心技术还是掌握在国外公司手中，国内生产厂商积极参与研发，但只有一小部分成功生产。

探针主要类型:悬臂探针和垂直探针。

悬臂探针:劈刀型(Blade Type)和环氧树脂型(Epoxy Type)

垂直探针:垂直型(Vertical Type)

1.ICT探针 (ICT series Probes)

一般直径在2.54mm-1.27mm之间，有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试.也称ICT测试和FCT测试.也是目应用较多的一种探针.

2.界面探针(Interface Probes)

非标准的探针，一般是为少数做大型测试机台的客户定做的，例如泰瑞达(Teradyne)和安捷伦(Agilent).用于测试机台与测试夹具的接触点和面.

3.微型探针(MicroSeries Probes)

两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm.

4.开关探针(Switch Probes)

开关探针单*支探针有两路电流.

5.高频探针(Coaxial Probes)

用于测试高频信号，有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的.

6.旋转探针(Rotator Probes)

弹力一般不高，因为其穿透性本来就很强，一般用于OSP处理过的PCBA测试.

7.高电流探针(High Current Probes)

探针直径在2.54mm-4.75mm之间.最大的测试电流可达39amps.

8.半导体探针 (Semiconductor Probes)

直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Ω characteristic

9.电池接触探针 (Battery and Connector Contacts)

一般用于优化接触效果，稳定性好和寿命长.

10.汽车线束测试测试探针

专业用于汽车线束通断检测，直径在1.0--3.5mm之间，电流在3----50A

除以上类型外还有温度探针，Kelvin探针等，比较少用.

探针是一小段单链DNA或者RN段(大约是20到500bp)，用于检测与其互补的核酸序列。双链DNA加热变性成为单链，随后用放射性同位素(通常用磷-32)、荧光染料或者酶(如辣根过氧化物酶)标记成为探针。磷-32通常被掺入组成DNA的四种核苷酸之一的磷酸基团中，而荧光染料和酶与核酸序列以共价键相连。

当将探针与样品杂交时，探针和与其互补的核酸(DNA或RNA)序列通过氢键紧密相连，随后，未被杂交的多余探针被洗去。最后，根据探针的标记物种类，可进行放射自显影、荧光发光、酶联化学发光等方法来判断样品中是否，或者何位置含有被测序列(即与探针互补的序列)。

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一种Web脚本程序，实质上是通过网页编程语言(ASP、PHP、ASP等)实现探测服务器敏感信息的脚本文件，通常用于探测目录、服务器操作系统、CPU数量、Session超时时间、服务器Session变量、 服务器Application变量、组件支持情况、运算速度、磁盘读写速度以及网络连接速度等。

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测试针，用于测试PCBA的一种探针。

表面镀金，内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。

国外比较有名的生产厂家有: QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT

探针的材质:W，ReW,CU、 A+

1.主要采用的材质为W，ReW, 弹性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨损损针长，寿命一般。

2. A+材质的免清针，这种材质弹性较好，测试中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此寿命较长。

探针分类

探针根据电子测试用途可分为:A、光电路板测试探针:未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针，国内大部分的探针产品均可替代进口产品;

B、在线测试探针:PCB线路板安装元器件后的检测探针;高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中，国内部分探针产品已研发成功，可替代进口探针产品;

C、微电子测试探针:即晶圆测试或芯片IC检测探针，核心技术还是掌握在国外公司手中，国内生产厂商积极参与研发，但只有一小部分成功生产。

探针主要类型:悬臂探针和垂直探针。

悬臂探针:劈刀型(Blade Type)和环氧树脂型(Epoxy Type)

垂直探针:垂直型(Vertical Type)

1.ICT探针 (ICT series Probes)

一般直径在2.54mm-1.27mm之间，有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试.也称ICT测试和FCT测试.也是目应用较多的一种探针.

2.界面探针(Interface Probes)

非标准的探针，一般是为少数做大型测试机台的客户定做的，例如泰瑞达(Teradyne)和安捷伦(Agilent).用于测试机台与测试夹具的接触点和面.

3.微型探针(MicroSeries Probes)

两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm.

4.开关探针(Switch Probes)

开关探针单*支探针有两路电流.

5.高频探针(Coaxial Probes)

用于测试高频信号，有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的.

6.旋转探针(Rotator Probes)

弹力一般不高，因为其穿透性本来就很强，一般用于OSP处理过的PCBA测试.

7.高电流探针(High Current Probes)

探针直径在2.54mm-4.75mm之间.最大的测试电流可达39amps.

8.半导体探针 (Semiconductor Probes)

直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Ω characteristic

9.电池接触探针 (Battery and Connector Contacts)

一般用于优化接触效果，稳定性好和寿命长.

10.汽车线束测试测试探针

专业用于汽车线束通断检测，直径在1.0--3.5mm之间，电流在3----50A

除以上类型外还有温度探针，Kelvin探针等，比较少用.

探针是一小段单链DNA或者RN段(大约是20到500bp)，用于检测与其互补的核酸序列。双链DNA加热变性成为单链，随后用放射性同位素(通常用磷-32)、荧光染料或者酶(如辣根过氧化物酶)标记成为探针。磷-32通常被掺入组成DNA的四种核苷酸之一的磷酸基团中，而荧光染料和酶与核酸序列以共价键相连。

当将探针与样品杂交时，探针和与其互补的核酸(DNA或RNA)序列通过氢键紧密相连，随后，未被杂交的多余探针被洗去。最后，根据探针的标记物种类，可进行放射自显影、荧光发光、酶联化学发光等方法来判断样品中是否，或者何位置含有被测序列(即与探针互补的序列)。

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一种Web脚本程序，实质上是通过网页编程语言(ASP、PHP、ASP等)实现探测服务器敏感信息的脚本文件，通常用于探测目录、服务器操作系统、CPU数量、Session超时时间、服务器Session变量、 服务器Application变量、组件支持情况、运算速度、磁盘读写速度以及网络连接速度等。

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测试针，用于测试PCBA的一种探针。

表面镀金，内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。

国外比较有名的生产厂家有: QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT

探针的材质:W，ReW,CU、 A+

1.主要采用的材质为W，ReW, 弹性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨损损针长，寿命一般。

2. A+材质的免清针，这种材质弹性较好，测试中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此寿命较长。

探针分类

探针根据电子测试用途可分为:A、光电路板测试探针:未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针，国内大部分的探针产品均可替代进口产品;

B、在线测试探针:PCB线路板安装元器件后的检测探针;高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中，国内部分探针产品已研发成功，可替代进口探针产品;

C、微电子测试探针:即晶圆测试或芯片IC检测探针，核心技术还是掌握在国外公司手中，国内生产厂商积极参与研发，但只有一小部分成功生产。

探针主要类型:悬臂探针和垂直探针。

悬臂探针:劈刀型(Blade Type)和环氧树脂型(Epoxy Type)

垂直探针:垂直型(Vertical Type)

1.ICT探针 (ICT series Probes)

一般直径在2.54mm-1.27mm之间，有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试.也称ICT测试和FCT测试.也是目应用较多的一种探针.

2.界面探针(Interface Probes)

非标准的探针，一般是为少数做大型测试机台的客户定做的，例如泰瑞达(Teradyne)和安捷伦(Agilent).用于测试机台与测试夹具的接触点和面.

3.微型探针(MicroSeries Probes)

两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm.

4.开关探针(Switch Probes)

开关探针单*支探针有两路电流.

5.高频探针(Coaxial Probes)

用于测试高频信号，有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的.

6.旋转探针(Rotator Probes)

弹力一般不高，因为其穿透性本来就很强，一般用于OSP处理过的PCBA测试.

7.高电流探针(High Current Probes)

探针直径在2.54mm-4.75mm之间.最大的测试电流可达39amps.

8.半导体探针 (Semiconductor Probes)

直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Ω characteristic

9.电池接触探针 (Battery and Connector Contacts)

一般用于优化接触效果，稳定性好和寿命长.

10.汽车线束测试测试探针

专业用于汽车线束通断检测，直径在1.0--3.5mm之间，电流在3----50A

除以上类型外还有温度探针，Kelvin探针等，比较少用.

探针是一小段单链DNA或者RN段(大约是20到500bp)，用于检测与其互补的核酸序列。双链DNA加热变性成为单链，随后用放射性同位素(通常用磷-32)、荧光染料或者酶(如辣根过氧化物酶)标记成为探针。磷-32通常被掺入组成DNA的四种核苷酸之一的磷酸基团中，而荧光染料和酶与核酸序列以共价键相连。

当将探针与样品杂交时，探针和与其互补的核酸(DNA或RNA)序列通过氢键紧密相连，随后，未被杂交的多余探针被洗去。最后，根据探针的标记物种类，可进行放射自显影、荧光发光、酶联化学发光等方法来判断样品中是否，或者何位置含有被测序列(即与探针互补的序列)。

折叠编辑本段技术论坛

探针技术论坛是基于Linux开源理念和Hack共享精神为一站的综合技术交流论坛。

折叠编辑本段电脑方面

一种Web脚本程序，实质上是通过网页编程语言(ASP、PHP、ASP等)实现探测服务器敏感信息的脚本文件，通常用于探测目录、服务器操作系统、CPU数量、Session超时时间、服务器Session变量、 服务器Application变量、组件支持情况、运算速度、磁盘读写速度以及网络连接速度等。

折叠编辑本段测试方面

测试针，用于测试PCBA的一种探针。

表面镀金，内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。

国外比较有名的生产厂家有: QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT

探针的材质:W，ReW,CU、 A+

1.主要采用的材质为W，ReW, 弹性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨损损针长，寿命一般。

2. A+材质的免清针，这种材质弹性较好，测试中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此寿命较长。

探针分类

探针根据电子测试用途可分为:A、光电路板测试探针:未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针，国内大部分的探针产品均可替代进口产品;

B、在线测试探针:PCB线路板安装元器件后的检测探针;高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中，国内部分探针产品已研发成功，可替代进口探针产品;

C、微电子测试探针:即晶圆测试或芯片IC检测探针，核心技术还是掌握在国外公司手中，国内生产厂商积极参与研发，但只有一小部分成功生产。

探针主要类型:悬臂探针和垂直探针。

悬臂探针:劈刀型(Blade Type)和环氧树脂型(Epoxy Type)

垂直探针:垂直型(Vertical Type)

1.ICT探针 (ICT series Probes)

一般直径在2.54mm-1.27mm之间，有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试.也称ICT测试和FCT测试.也是目应用较多的一种探针.

2.界面探针(Interface Probes)

非标准的探针，一般是为少数做大型测试机台的客户定做的，例如泰瑞达(Teradyne)和安捷伦(Agilent).用于测试机台与测试夹具的接触点和面.

3.微型探针(MicroSeries Probes)

两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm.

4.开关探针(Switch Probes)

开关探针单*支探针有两路电流.

5.高频探针(Coaxial Probes)

用于测试高频信号，有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的.

6.旋转探针(Rotator Probes)

弹力一般不高，因为其穿透性本来就很强，一般用于OSP处理过的PCBA测试.

7.高电流探针(High Current Probes)

探针直径在2.54mm-4.75mm之间.最大的测试电流可达39amps.

8.半导体探针 (Semiconductor Probes)

直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Ω characteristic

9.电池接触探针 (Battery and Connector Contacts)

一般用于优化接触效果，稳定性好和寿命长.

10.汽车线束测试测试探针

专业用于汽车线束通断检测，直径在1.0--3.5mm之间，电流在3----50A

除以上类型外还有温度探针，Kelvin探针等，比较少用.