半导体PCT高压加速老化试验箱

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艾思荔半导体PCT高压加速老化试验箱不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计。圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品。精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续400Hrs运转。进口耐高温密封电磁阀，采用双回路结构，保证压力无泄露。整机配备超压保护，超温保护，一键泄压，手动泄压多重安全保障装置，在大程度上保证用户的使用和安全。反压门锁装置，在试验室内部有压力时，试验箱门无法打开。

高压加速老化试验箱控制系统： 

1、采用中国台湾台仪微电脑控制饱和蒸气温度(采用PT-100白金感温体）。  

2、时间控制器采LED显示器。  

3、采用指针显示压力表。  

4、微电脑P。I。D自动演算控制饱和蒸气温度。  

5、手动入水阀（自动补水功能，可不停机连续试验）。

高压加速老化试验箱性能：

1、设定温度：+100℃～+132℃(饱和蒸气温度)  

2、湿度范围：100%蒸气湿度  

3、使用压力：1。5Kg～3。2Kg/cm2(内桶设计耐压4Kg/cm2)（Jue对压力）  

4、时间范围：000Hr～999Hr  

5、加压时间：0。00Kg～1。04Kg/cm2约45分  

6、温度波动均匀度：±0。5℃  

7、温度显示精度：0。1℃  

8、压力波动均匀度：±0。2Kg  

高压加速老化试验箱附配文件：

1、系统全新保证书,保固书  

2、采用中国台湾台仪微电脑控制饱和蒸气温度(采用PT-100白金感温体）。  

3、时间控制器采LED显示器。  

4、采用指针显示压力表。  

5、微电脑P。I。D自动演算控制饱和蒸气温度。  

6、手动入水阀（自动补水功能，可不停机连续试验）。  

高压加速老化试验箱材质：  

1、试验箱尺寸：∮300mmxL500mm,圆型试验箱  

2、全机外尺寸：以实际为主(W*D*H)立式  

3、内桶材质：不锈钢板材质（SUS#3163mm）  

4、外桶材质：不锈钢板材质（SUS#3161mm））  

5、保温材质：岩棉及硬质polyurethane发泡保温  

6、蒸汽发室加热管：鳍片散热管形无缝钢管电热器（表面镀铂，防腐蚀）

高压加速老化试验箱安全保护：  

1、进口耐高温密封电磁阀，采用双回路结构，保证压力无泄露。  

2、整机配备超压保护，超温保护，一键泄压，手动泄压多重安全保障装置，在大程度上保证用户的使用和安全。  

3、反压门锁装置，在试验室内部有压力时，试验箱门无法打开。

半导体PCT高压加速老化试验箱用途：使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节，适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。