qnix®8500薄镀层探头mi fe 500

 QNix8500薄镀层探头MI FE 500

薄镀层探头简介

QNix薄镀层探头MIFE500是德国公司研发的、专门测量很薄涂镀层厚度的磁感应探头。它很高的测量精度和重复性为您测量很薄的覆层厚度提供了有效手段。它可以用来测量所有磁性金属基体上的非磁性涂镀层，分辨率高达0.01μm。.
为了满足在测量很薄的镀层厚度时对精度的苛求，我公司还提供工作台。使用该工作台可大大减少人为操作引起的误差，尤其在测量钉子、螺栓等小工件是效果尤为明显。

主要特点：

零位稳定：所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位，可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后，可以长时间保持零位不漂移，确保准确测量。 
无需校准：多数涂层测厚仪除了校零外，还需要用标准片进行调校。测量某一范围厚度，要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐，而且也会因标准片表面粗糙失效，增大系统误差。尼克斯涂层测厚仪可以满足全量程范围内数值准确
温度补偿：涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术，以保证不同温度下的测量精度。 
红宝石探头：探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头，其表面磨损后会带来很大的误差。 
*的直流采样技术：使得测量重复性较传统交流技术有**的优越和提高。 单探头量程大：0－5mm

QNix8500涂层测厚仪

QNIX8500涂镀层测厚仪一-体分体通用，带菜单操作，是一种智能化的测厚仪。可通过更换探头来满足不同的测量要求，可存储统计数据，并且可与计算机进行无线数据传输。该仪器主机通用，探头有普通探头、无线探头、薄镀层探头多种，用户购买时请根据需要选择合适的探头，购买一台主机即可满足不同的需求，只需简单的更换探头。QNix8500可通过菜单设置单点或两点校准、单次测量或连续测量，连续测量只需将探头压实在被测物表面，由仪器自动完成多次测量，避免人为操作不当带来的测量误差。也可通过菜单选择Fe/NFe同时测量，测量磁性基体Fe表面的非磁性金属镀层NFe厚度及非磁性金属镀层NFe表面的涂层厚度，功能强大。