自动化检定套件ACS.软件半导体开关系统

自动化检定套件ACS.软件半导体开关系统

什么是 ACS？

ACS 是一种功能强大的软件框架，适用于执行各种测试详细检定半导体器件的工程师。 ACS 适用于 Keithley 各种业界*的 SMU 仪器和系统。 使用标准 ACS 在控制自动化探头的晶片或暗盒级自动完成测试。 对于手动测试或单台设备测试，请考虑使用 ACS 基础版。 对于高级多 DUT 晶片级可靠性 (WLR)，请使用带 ACS-2600-RTM 选项的标准 ACS。  或从下面了解有关多种应用程序、测量硬件和 ACS 功能的更多信息！

元器件检定 IC 器件检定 晶片级可靠性 芯片分类 参数化测试

元器件检定

为分立的半导体元器件（如 MOSFET、双极晶体管、二极管、高功率 IGBT 等）创建和管理各种各样的深入测试和测量结果。 在下面探SUO Keithley 的各种“测量功能”及相应说明。

测量功能

ACS 软件 ACS 基础软件 2600B 系统 SourceMeter ® SMU 仪器 2650A 高功率系统 SourceMeter ® SMU 仪器 参数化 
波形记录器 
4200-SCS 型参数分析仪 S500 集成式 
测试系统

单击左侧的测试功能查看其描述

ACS 软件

ACS 支持各种半自动和全自动探头在整个晶片上对半导体器件进行测量。 或者，以交互方式控制探头测试每个器件。 在运行时期间，通过单器件结果和多器件统计监视测试进度。

ACS 基础版软件

ACS 基础版主要适合通过手动探头测试台和测试夹具进行半导体元器件测试。 通过“谱线模式”快速地以交互方式执行初始器件检定。 或者，使用基于 GUI 的设置屏幕和广泛的测量库创建详细的参数提取测试。 ACS 基础版快速产生实时结果，可用于在 ACS 基础版中分析，也可用于导出到其他离线分析工具。

2600B 系列系统 SourceMeter ® 源测量单元 (SMU) 仪器

2600B 系列 SourceMeter SMU 仪器提供双通道单元，非常适合测试多端半导体，如 MOSFET 和 BJT。吉时利的 TSP-Link® 可在 SMU 仪器间提供协调控制和准确定时。2600 系列产品有多种型号可供选择，能够满足特定的电压和电流技术规格。单击此处 了解更多信息。

2650A 系列高功率系统 SourceMeter 源测量单元 (SMU) 仪器

2650A 系列高功率 SourceMeter SMU 仪器可用于各种测试配置。提供 3kV 或 50A 脉冲（高达 2000W 脉冲或 200W 直流）的源或测量。而且，YI流的低电流能力还提供出色的漏电测量。将吉时利用于集成式系统配置的 TSP-Link® 与低功率 2600B 系列 SourceMeter SMU 仪器配合使用。单击 此处 了解更多信息。

PCT 配置

Keithley 的参数化波形记录器配置是适用于电源设备检定的完整检定解决方案，包括高性能仪器、电缆、测试夹具以及软件。 有七种配置，每种配置都提供实时谱线模式和全参数化模式，前者用于快速检查击穿电压等基本设备参数，后者用于提取准确的设备参数。

4200-SCS 型参数分析仪

4200-SCS 型参数分析仪的 200V/1A SMU 和 400V C-V 功能非常适用于半导体元器件检定。通过 2650A 高功率 SourceMeter SMU 仪器配置 4200-SCS，可测试高达 3kV 的电压或 50A 的电流。通过 ACS 基础版软件可在这一范围的吉时利功能上创建和执行测试。单击 此处 了解更多信息。

S500 集成式测试系统

自动化检定套件ACS.软件半导体开关系统通过 S500 集成式测试系统体验吉时利推出的完套解决方案。这些高度可配置的系统可以加入各种测量功能，用于技术开发测试站。或者，将 ACS 的自动化功能与 S500 系统配合使用，通过自动化晶片探头执行高吞吐量多器件测试。单击 此处 了解更多信息。