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目前SIDSP是技术，智能化数字化的涂层测厚仪探头。该技术是有EPK品牌自主研发，此项技术的在一次创新取得了决定性优势，为涂层测厚领域建立的新标准。
那么，SIDSP有哪些决定性的优势呢？
1）探头具有*的抗干扰性
2）测量型号稳定性高
3）*的高度的探头特征曲线
4）温度对探头不具影响力
5）探头适应能力强
6）N和FN型探头基体导电性补偿
7）将持续发现并改进SIDSP技术，以满足客服的需求
EPK MiniTest 720/730/740技术参数
主机：
| 型号 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
| 探头类型 | 内置 | 外置 | 内/外置可换 |
| 数据记忆组数 | 10 | 10 | 100 |
| 存储数据量 | ≤10000个 | ≤10000个 | ≤100000个 |
| 统计值 | 读值个数，zui小值，zui大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置） | ||
| 校准程序符合标准和规范 | ISO,SSOC,瑞典标注，澳大利亚标准 | ||
| 校准模式 | 出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值 | ||
| 极限值监控 | 声、光报警提示超过极限 | ||
| 测量单位 | um, mm, cm, mils,inch,thou | ||
| 操作温度 | -10℃-60℃ | ||
| 存放温度 | -20℃-70℃ | ||
| 数据接口 | IrDA 1.0（红外接口） | ||
| 电源 | 2节AA电池 | ||
| 标准 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 | ||
| 体积 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
| 重量 | 约175g | 约210g | 约175g（内置）230g（外置） |
探头：
| 探头 特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
| F | N | F | F | N | F | |
| 测量范围 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
| 使用范围 | 小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用 | 粗糙表面 | 标准探头，使用广泛 | 厚涂层 | ||
| 测量原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 |
| 信号处理 | 探头内部32位信号处理（SIDSP） | |||||
| 度 | ±（1μm+0.75%读值） | ±（1.5μm+0.75%读值） | ±（5μm+0.75%读值） | |||
| 重复性 | ±（0.5μm+0.5%读值） | ±（0.8μm+0.5%读值） | ±（2.5μm+0.5%读值） | |||
| 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
| zui小曲率半径（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
| zui小曲率半径（凹，外置探头） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
| zui小曲率半径（凹，内置探头） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
| zui小测量面积 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
| zui小基体厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
| 测量速度 | 连续模式每秒20个读数,单值模式下每分钟70个读数 | |||||
EPK MiniTest 720/730/740技术参数
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