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智能手机或车载电脑等使用的片式元器件，由于产品的小型化和多功能化，更加追求高密度的安装，部件本身也变得越来越小。它们中电极部分使用Sn和Ni双层膜的情况较多，因此对其膜厚管理的追求也越高。FT150系列配备了新型聚光光学系以及升级后的Vortex®检测器，可实现对今后越来越小型化片式元器件的电极部膜厚的高度Ni/Sn的同时测量。此份资料中，介绍了FT150系列阵容中通过Sn和Ag等高能量荧光X射线使测量性能强化后的FT150对陶瓷片式元器件冷凝器的Ni/Sn层进行膜厚测量，之后更进一步确认对样品断面研磨后的电极部膜厚案例
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使用FT150h测量片式元器件电极膜厚
阅读：1383 发布时间：2016-7-5