紫外辐照计UV-A执行企业标准Q/HDSDY0003－2014。UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

特点

光谱及角度特性经严格校正

数字液晶显示，带背光
手动/自动量程切换
数字输出接口（USB,冗余供电）
低电量提醒
自动延时关机
有数字保持
轻触按键操作，蜂鸣提示

技术参数

项目	参数	备注
波长范围λ1，峰值波长λp	（320～400）nm，λ_P＝365nm	配备两只探头
波长范围λ2，峰值波长λp	（375～475）nm，λ_P＝420nm	配备两只探头
辐照度测量范围	(0.1～199.9×10³) μW/cm²
紫外带外区杂光	0.02%
相对示值误差	±8％（相对于NIM标准）
角度响应特性	±5% （α≤10°）
线性误差	±1%
换档误差	±1%
短期不稳定性	±1%（开机30min后）
零值误差	满量程的±1%
响应时间	<1秒
使用环境	温度(0~40)℃；湿度＜85％RH
尺寸和重量	160mm×78mm×43mm；0.2kg
电源	6F22型9V积层电池（非充电电池）
整机功耗	＜0.1VA

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