X-RAY射线牛津仪器荧光光谱仪

X-RAY射线牛津仪器荧光光谱仪

品牌：牛津仪器     型号：MAXXI5    产地：英国

一、X-RAY射线牛津仪器荧光光谱仪功能

1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
2. 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。
3. 镀层层数：多至4层。
4. 测量点尺寸：0.06mm x 0.06mm、0.05mm x 0.15mm、φ0.1mm、φ0.2mm圆形或矩形
5. 测量时间：通常30秒。
6. 样品zui大尺寸：600mm(W) x 500mm(D) x 170mm(H)
7. 测量误差：通常小于5%，视样品镀层厚度及测试点大小等具体情况而定。
8. 可测厚度范围：通常0.01微米到几十微米，视样品组成密度和镀层结构而定。

二、特点和数据

1. 采用基本参数法校准，可在无薄膜标样情况下生成校准曲线以完成测量。
2. X射线采用从上至下的照射方式，即使是表面高低不一的样品也可以正确测量。反之，如果是从下至上的照射方式，遇到表面凹凸的样品，无法调整Z轴距离，导致测量光程的变化，引起测量的误差。例如（举例不同距离导致的误差数据）。
3. 开放的校准模式，用户可自行建立校准曲线不受仪器厂家限制。
4. 提供符合NIST美国国家标准技术协会要求，A2LA美国实验室协会认证的标准样品，可验证测量结果并让实验数据具有可追溯性。
5. Windows 7操作系统，数据可存储，转移，并可一键生成包含测量数据、统计值、样品图片和趋势图等要素的报告（word格式）
6. 奔蓝科技—昆山分公司     吴 151九零一九4078