目录:江阴韵翔光电技术有限公司>>光学成像>>显微物镜>> 直接峰值测量显微镜
| 价格区间 | 面议 | 应用领域 | 医疗卫生,环保,化工,电子 |
|---|---|---|---|
| 组件类别 | 光学元件 |
直接峰值测量显微镜
PEAK直测显微镜
（1）多种放大倍率选项
（2）照明型号 备有英制或公制分划板可供选择
（3）可移除的透明亚力克底座
直接峰值测量显微镜是一款高功率的便捷式显微镜，设计用于进行的深度测量。备有一个放大倍率为10X的可调焦目镜，以及一个度达0.1mm的刻度，用于测量物体的长度、宽度或深度。其透明剖面亚力克底座允许用户在观察物体时操纵样本。照明型号提供了一个可移除的照明笔，以及两个AA电池。与硬质乙烯基包装盒一同出售。注意：不可移除或替换分划板。
订购信息：
| #39-110 | #39-111 | #39-112 | #39-113 |
放大率 | 25X | 50X | 75X | 100X |
视场 (mm) | 3.30 | 2.00 | 1.09 | 0.84 |
工作距离 (mm) | 17.0 | 11.7 | 11.7 | 11.6 |
刻度 (mm) | 0.05 | 0.02 | 0.01 | 0.005 |
分划板刻度 (mm) | 0 - 3.0 | 0 - 1.6 | 0 - 1.0 | 0 - 0.8 |
Depth Measurements (mm) | Up to 22 | Up to 22 | Up to 22 | Up to 22 |
尺寸 (mm) | At Focus: 41.5 Dia. x 122 L | At Focus: 41.5 Dia. x 122 L | At Focus: 41.5 Dia. x 122 L | At Focus: 41.5 Dia. x 122 L |
RoHS | 豁免 | 符合标准 | 豁免 | 豁免 |
Metric Reticle, 20X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-763技术参数与相关资料
放大率 | 20X |
视场 (mm) | 7.2 |
工作距离 (mm) | 36.0 |
数字孔径 NA | 0.06 |
刻度 (mm) | 0.10 |
分划板刻度 (mm) | 3-0-3 |
Depth Measurements (mm) | Up to 32 |
尺寸 (mm) | At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS | 豁免 |
English Reticle, 20X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-778技术参数与相关资料
放大率 | 20X |
视场 (mm) | 7.2 |
工作距离 (mm) | 36.0 |
数字孔径 NA | 0.06 |
刻度（英寸） | 0.005 |
分划板刻度（英寸） | 0 - 0.25 |
Depth Measurements (mm) | Up to 32 |
尺寸 (mm) | At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS | 豁免 |
Metric Reticle, 60X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-765技术参数与相关资料
放大率 | 60X |
视场 (mm) | 2.4 |
工作距离 (mm) | 10.8 |
数字孔径 NA | 0.15 |
刻度 (mm) | 0.02 |
分划板刻度 (mm) | 1-0-1 |
Depth Measurements (mm) | Up to 32 |
尺寸 (mm) | At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS | 豁免 |
English Reticle, 60X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-780技术参数与相关资料
放大率 | 60X |
视场 (mm) | 2.4 |
工作距离 (mm) | 10.8 |
数字孔径 NA | 0.15 |
刻度（英寸） | 0.001 |
分划板刻度（英寸） | 0 - 0.08 |
Depth Measurements (mm) | Up to 32 |
尺寸 (mm) | At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS | 豁免 |
Metric Reticle, 100X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-766技术参数与相关资料
放大率 | 100X |
视场 (mm) | 1.45 |
工作距离 (mm) | 5.7 |
数字孔径 NA | 0.19 |
刻度 (mm) | 0.01 |
分划板刻度 (mm) | 0.6-0-0.6 |
Depth Measurements (mm) | Up to 32 |
尺寸 (mm) | At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS | 豁免 |
English Reticle, 100X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-781技术参数与相关资料
放大率 | 100X |
视场 (mm) | 1.45 |
工作距离 (mm) | 5.7 |
数字孔径 NA | 0.19 |
刻度（英寸） | 0.0005 |
分划板刻度（英寸） | 0 - 0.05 |
Depth Measurements (mm) | Up to 32 |
尺寸 (mm) | At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS | 豁免 |
Metric Reticle, 150X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-767技术参数与相关资料
放大率 | 150X |
视场 (mm) | 0.96 |
工作距离 (mm) | 9.2 |
数字孔径 NA | 0.24 |
刻度 (mm) | 0.005 |
分划板刻度 (mm) | 0.45-0-0.45 |
Depth Measurements (mm) | Up to 32 |
尺寸 (mm) | At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS | 豁免 |
English Reticle, 150X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-782技术参数与相关资料
放大率 | 150X |
视场 (mm) | 0.96 |
工作距离 (mm) | 9.2 |
数字孔径 NA | 0.24 |
刻度（英寸） | 0.0002 |
分划板刻度（英寸） | 0 - 0.035 |
Depth Measurements (mm) | Up to 32 |
尺寸 (mm) | At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS | 豁免 |
Metric Reticle, 200X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-768技术参数与相关资料
放大率 | 200X |
视场 (mm) | 0.72 |
工作距离 (mm) | 6.7 |
数字孔径 NA | 0.35 |
刻度 (mm) | 0.002 |
分划板刻度 (mm) | 0.3-0-0.3 |
Depth Measurements (mm) | Up to 32 |
尺寸 (mm) | At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS | 豁免 |
English Reticle, 200X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#39-783技术参数与相关资料
放大率 | 200X |
视场 (mm) | 0.72 |
工作距离 (mm) | 6.7 |
数字孔径 NA | 0.35 |
刻度（英寸） | 0.0001 |
分划板刻度（英寸） | 0 - 0.024 |
Depth Measurements (mm) | Up to 32 |
尺寸 (mm) | At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS | 豁免 |
Metric Reticle, 300X Peak Illuminated Direct Microscope
库存#56-302技术参数与相关资料
放大率 | 300X |
视场 (mm) | 0.48 |
工作距离 (mm) | 4.0 |
数字孔径 NA | 0.40 |
刻度 (mm) | 0.001 |
分划板刻度 (mm) | 0.2-0-0.2 |
Depth Measurements (mm) | Up to 32 |
尺寸 (mm) | At Focus: 63 Dia. x 172 L |
RoHS | 豁免 |
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