gdat高频Q表的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。
介电常数测试仪主要技术特性
Q 值测量范围 2 ～ 1023 ，分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动或手动
固有误差 ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
工作误差 ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
电感测量范围 4.5nH ～ 140mH
电容直接测量范围 1 ～ 200pF
主电容调节范围 18 ～ 220pF
主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％
信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz
频率分段 （ 虚拟 ）100 ～ 999.999kHz，1-9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz，100 ～ 160MHz
频率指示误差 3 × 10 -5 ± 1 个字
介电常数测试仪特点
●双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
●双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
●双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
●自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
●全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
●DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
●计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低，** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
gdat高频Q表的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。
介电常数测试仪技术特性
平板电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选
极片间距可调范围：≥15mm
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
4．测微杆分辨率：0.001mm
售后管理：
我公司实现计算机化管理，实行客户定期回访制度，定期复查设备的工作情况，定期指导用户对设备进行保养和检测，以便设备正常运转，跟踪客户的设备使用情况，以便及时对设备进行维护
附件及随机文件：
8.1 本仪器有一个主包装箱，内有一个砝码箱，箱内有砝码及热变形压头。详见装箱单。
8.2 随机文件：
- 使用说明书一份。
- 合格证一份。
装箱单一份。
