XRF-2000X射线测厚仪
韩国Micro Pioneer XRF-2000型测厚仪
应用于快速准确无损检测各种金属镀层厚度：
测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等
XRF-2020型镀层测厚仪：可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等，不限底材。
如单镀层铜上镀银，铜上镀镍，铜上镀锌，铜上镀锡，铁上镀镍等
双镀层如铜上镀镍镀金，铁上镀铜镀镍，铜上镀镍镀银等，不限底材
多镀层如：ABS上镀铜镀镍镀铬，铁上镀铜镀镍镀金等，不限底材
合金镀层如：铁上镀锌镍等。不限底材
XRF-2000X射线测厚仪
检测电镀层测厚度，可测单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层。
检测范围0.05-35um
Micro Pioneer XRF-2000镀层测厚仪*，配置全自动台面，自动雷射对焦。
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