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依诺检测设备(东莞)有限公司>>PCT高压加速寿命老化箱>>PCT高温高压老化试验箱>> ZK-PCT-65L芯片加速老化试验箱

芯片加速老化试验箱

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参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号 ZK-PCT-65L
  • 品牌 其他品牌
  • 厂商性质 生产商
  • 所在地 东莞市
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更新时间:2021-11-10 09:58:34浏览次数:905

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产品简介

产地类别 国产 应用领域 电子,冶金,航天,电气,综合
芯片加速老化试验箱用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,高压寿命老化箱,三综合试验机(精密设备生产,质量保证可靠)。

详细介绍


一、芯片加速老化箱用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,高压寿命老化箱,三综合试验机。


二、芯片加速老化箱特点

1.不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准, 可防止试验中结露滴水设计。

2.圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品。

3.精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续200h。

4.自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,安全门把设计,箱内有大于常压时测试们会被反压保护。

5.箱内压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,可延长packing寿命。

6.实验开始前之真空动作可将原来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气(partical<1micorn)。以确保箱内之纯净度。

7.临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。


三、半导体高温高压试验机技术参数

型 号:

ZK-PCT-25

ZK-PCT-35

ZK-PCT-45

ZK-PCT-65

内部尺寸(W×H×D)mm:

Φ250×300

Φ300×450

Φ450×500

Φ600×650

外箱尺寸(W×H×D)mm:

500×500×700

580×850×650

800×750×900

950×900×1100

使用温度:

121℃;132℃;(143℃特殊选用)

使用湿度:

100%RH饱和蒸气湿度

使用蒸气压力(压力):

1个环境大气压 +0.0Kg/cm2 - 2.0Kg/cm2 ;(3.0Kg/cm2属于特殊规格)

循环方式:

水蒸气自然对流循环

安全保护装置:

缺水保护,超压保护、 (具有自动/手动补水功能,自动泻压功能)

配 件:

不銹钢隔板两层

电 源:

AC220V,50/60Hz/AC380V , 50/60Hz


四、芯片加速老化箱执行与满足标准

1.GB/T10586-1989湿热试验室技术条件。

2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验。

3.MIL-STD810D方法502.2。

4.GJB150.9-8温湿试验。

5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验。


公司主营产品:冷热冲击试验箱、恒湿恒湿试验箱、高低温试验箱、步入式温湿交变试验室、高低温湿热交变试验机、高温老化房、快速温变试验箱、高低温低气压试验箱、pct测试仪 、中科pct测试设备、紫外线耐候老化试验箱、氙灯耐候老化试验箱、耐寒折弯试验箱、砂尘试验箱、淋雨试验箱、臭氧老化试验箱、换气老化试验箱、恒温鼓风干燥试验箱、太阳光伏组件试验箱、振动试验机、跌落试验机、拉力试验机等可靠性试验设备以及定做非标机型。



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