芯片高温高压加速老化箱

军企用高温高压加速寿命测试箱用途

适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，高压寿命老化箱，三综合试验机。

军企用高温高压加速寿命测试箱特点

1.不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准， 可防止试验中结露滴水设计。

2.圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品。

3.精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200h。

4.自动门禁，圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制，安全门把设计，箱内有大于常压时测试们会被反压保护。

5.箱内压力愈大时，packing会有反压会使其与箱体更紧密结合，与传统挤压式*不同，可延长packing寿命。

6.实验开始前之真空动作可将原来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气(partical<1micorn)。以确保箱内之纯净度。

7.临界点LIMIT方式自动安全保护，异常原因与故障指示灯显示。

设备执行与满足标准

1. GB/T10586-1989湿热试验室技术条件。

2. GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验。

3. MIL-STD810D方法502.2。

4. GJB150.9-8温湿试验。

5. GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验。