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日本KETT膜厚计LZ-373使用说明书

阅读:5017          发布时间:2016-8-16
提 供 商 苏州丹斯特电子有限公司 资料大小 900.4KB
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日本KETT膜厚计LZ-373使用说明书见附件!

日本KETT膜厚计LZ-373的技术参数:

  

LZ-373电磁/高频涡流两用式

测定方式

电磁式

高频涡流式

测定对象

磁性金属基体上非磁性涂镀层

非磁性金属基体上绝缘层

测定范围

0-2500um

0-1200um

测定精度

<50um ±1um           50um-1000um ±2%         1000um以上 ±3%

<  100um      0.1um     >    100um    1um

附加功能

1.程序选择 2.基体修正 3.数据删除 4.数据记忆 5.设定上下限 6.数据统计(测定次数zui大值zui小值标准偏差) 7.语言选择(中、英、日、韩) 8.日期时间  9.自动关机设定 10.背景灯光选择  11.背景灯光的时间设计 12.单位 13.数据输出

测头

点触式(LEP-J

点触式(LHP-J

显示方式

数字LCD显示(背光灯可自行选择开关)

数据输出

记忆数据 大约3000  电脑输出(USB或者RS-232C)或者连接打印机(RS-232C

存储通道

100通道可供选择(两用式各有50通道)

尺寸重量

75(W)×145(D)×31(H)mm  0.34kg

标准配件

基体 标准片 4节咸性电池 测头 皮套(41.5V咸性电池)

可选配置

数据管理软件(LDL-02)数据管理软件(McWAVE系列)不同厚度的标准片支架LW-990打印机VZ-330打印机连线及电脑连线RS-232CUSB的转换线

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