北京慧龙环科环境仪器有限公司
主营产品: 奥立龙水质分析仪,WTW水质分析仪 |
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产品展示
Product产品图片 | 产品名称 | |||
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YE0161西门子之星测试图卡 简单介绍:YE0161西门子之星测试图卡设计用于调整相机镜头和检查焦距。它由一个位于中心的大型西门子星和位于测试图角的四个较小的星组成。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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YE04 SineImage条块测试卡 简单介绍:YE04 SineImage条块测试卡为了检测电视摄像机的中级和深度频率的传输特性而设计的。在测试卡上部4条不同长度的黑色水平条块被分布白色背景上。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE280纹理损失测试卡ISO19567 简单介绍:TE280纹理损失测试卡ISO19567用于分析“纹理损失",这是由于噪声降低或其他图像处理技术导致的图像中低对比度,精细细节的损失。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE276彩色枯叶图 简单介绍:TE276彩色枯叶图用于分析“纹理损失",这是由于降噪或其他图像处理技术导致的图像中低对比度,精细细节的损失。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE274微距测试卡 简单介绍:TE274微距测试卡设计用于分析在微距模式下单反相机系统以及小型相机的微距镜头的分辨率和失真。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE271 3D校准测试卡 简单介绍:TE271 3D校准测试卡用于对齐和调整摄像机进行3D拍摄。2D和3D结构的*组合允许简单和直接的准备您的立体摄像机设置。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE266 微缩胶片测试卡DIN 19051 简单介绍:TE266 微缩胶片测试卡DIN 19051提供了一个校准微缩胶片生产链的测试卡。 它们可以安装在塑料背板上,放在桌子上或悬挂在任何可用的安装装置上。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE265 枯叶图 简单介绍:TE265 枯叶图用于分析“纹理损失",这是由于降噪或其他图像处理技术导致的图像中低对比度,精细细节的损失。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE258 IT8扫描仪特征测试卡 简单介绍:TE258 IT8扫描仪特征测试卡设计用于扫描仪,它适合为扫描仪创建颜色管理配置文件。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE255 shading/vignetting测试卡 简单介绍:TE255 shading/vignetting测试卡是一种非常精确和中性的透射玻璃板,与积分球或灯箱组合使用。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE249 微距功能测试卡 简单介绍:TE249 微距功能测试卡设计用于测试相机镜头系统的微距功能。类型:反射式/透射式 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE246 四象限扇形星测试卡 简单介绍:TE246 四象限扇形星测试卡由四个象限组成,每个象限具有不同的周期数。 因此,可以将广角和远摄位置聚焦以用于聚焦点的调整。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE239 HDTV调制深度测试卡 简单介绍:TE239 HDTV调制深度测试卡设计用于检查HDTV摄像机的调制深度的频率响应和调制深度的均匀性。测试卡由19个多脉冲串组成,分布在16:9的图像区域。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE237 高分辨率扇形星测试卡 简单介绍:TE237 高分辨率扇形星测试卡用于检查整个图像区域的分辨率。它由72(黑色和白色)扇区的扇形星组成。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE236 镜头呼吸效应测试卡 简单介绍:TE236 镜头呼吸效应测试卡设计用于测量镜头呼吸效应。 这意味着仅通过改变聚焦点来改变镜头的焦距(场景的再现比例)。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE231 频率响应测试卡 简单介绍:TE231 频率响应测试卡设计用于检查高清摄像机的频率响应。测试卡显示在100至1200线的整个图像区域上的线光栅。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE220后焦距测试卡(36周期) 简单介绍:TE220后焦距测试卡(36周期)专为调整相机镜头和检查焦距而设计。 它由一个大的西门子星在中心和位于测试图的角落的四个较小的组成。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE218相机自动对焦测试仪(IEC61146) 简单介绍:TE218相机自动对焦测试仪(IEC61146)用于检查相机的自动对焦系统它由两种不同尺寸的西门子之星组成。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE217 亮度/色度偏移测试卡(IEC61146) 简单介绍:TE217 亮度/色度偏移测试卡(IEC61146)描述亮度和色度通道之间的时间差。时间差必须在辉度的50%幅度点和色度转换点之间测量,两个信号来自相同的测试模式。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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TE215 光晕效应测试卡(IEC61146) 简单介绍:TE215 光晕效应测试卡(IEC61146)设计用于测量电子摄像机的光晕效应。 测试卡由黑色背景上一个小矩形窗口组成。 产品型号: 所在地:北京市 更新时间:2022-11-20 |
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