涂层测厚仪原理及使用注意

恩慈电子为你介绍涂层测厚仪原理及使用注意

涂层测厚仪原理： 
1、磁性测厚原理：当测头与覆层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。 

2、涡流测厚原理：利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

涂层测厚仪使用注意事项：

    由于电磁场在不同表面结构有不同的分布形式，从而导致测量误差，为避免因操作而引起的误差，在使用时，请遵循一下原则:

   1、在同一点重复测量时，每次将探头离开10cm以上，间隔几秒钟后再测，避免被测材料因探头磁化后，影响下次测量结果。

   2、使用时，平面调零测平面，凸面调零测凸面，凹面调零测凹面，避免因结构不同而产生测量误差。

   3、尽量使用被测材料作为调零基体，避免因不同材料的导磁性不同，而出现测量误差。

   4、尽量在被测材料的同一部位调零后，再测相同部位。例如，在工件边缘和中间部位应分别调零。

   5、做调零用的表面，要尽量光滑；被测材料表面的粗糙度对测量数值影响很大，假如表面不光滑，应视情况取平均值。

  6、测量时，探头要保持与被测料面垂直，否则会产生较大误差。