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深圳市艺慈仪器有限公司>>X荧光光谱仪(ROHS)>>ROHS光谱分析仪>> EDX3500RoHS光谱分析仪

RoHS光谱分析仪

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  • 型号 EDX3500
  • 品牌
  • 厂商性质 生产商
  • 所在地 深圳市
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更新时间:2024/01/07 10:11:14浏览次数:3959

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产品简介

天瑞ROHS光谱仪专为电子信息产品中ROHS有害物质元素测试的仪器,产品标准符合 电工委员会 IEC 62321 标准(XRF 筛选性检测),符合欧盟 EN 71 八大重金属元素测定程序,为广大客户提供完善的解决方案。

详细介绍

RoHS光谱分析仪应用领域:

RoHS光谱分析仪专为电子信息产品中ROHS有害物质元素测试的仪器,产品标准符合 电工委员会 IEC 62321 标准(XRF 筛选性检测),符合欧盟 EN 71 八大重金属元素测定程序,为广大客户提供完善的解决方案。

性能优势:

1.超低能量分辨率,轻元素检测效果更佳
使用大面积铍窗电致冷SDD探测器,探测器分辨率低达到139eV,各项指标优于国家标准。SDD探测器具有良好的能量线
性、良好的能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;对Si、S、AI等轻元素的测试具有良好的分析精度。

2. 测试精度更高,检出限更低
①专业化的样品腔设计,带可调速的自旋样品腔,能有效的测定轻元素和减少样品均一性的影响,提高样品的测试精度。
②采用超小超真空的样品腔设计,保证测试时达到10Pa以下,使设备的测试范围可从F元素起测试,大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。

3. 分析速度更快,从第1秒即可得到定性定量结果
采用自主研发的数字多道技术,其线性计数率可达100kcps,可以更加快速的分析,从第1秒就可以得出定性定量结果,
设计成高计数率,大大提高了设备的稳定性。

4. 一键式智能化操作
专业软件,先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作,使操作简易,对操作人员限制小的特点。

5. 强大的自动化功能
①自动化程度高,具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。
②采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的*性:利用解谱技术使谱峰分解,采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

6. 强度校正法
具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

7. 完善的光路系统
自主研发的光路系统,光程更短,光路损失更少,激发效果更佳。

8. 三重安全防护功能
三重安全防护功能,自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏;加厚防护测试壁;配送测试防护安全罩。

9. 安全警示系统
警告指示系统,通电时绿色指示灯亮,测试时黄色辐射指示灯闪烁,防止误操作。

仪器配置:

铍窗电制冷SDD探测器
自旋式样品腔
高效超薄窗X光管
信噪比增强器SNE
超近光路增强系统
可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
先进的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型

技术参数:


X射线源:50KV、1mA
样品腔体积:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X荧光分析方法
测量元素范围:原子序数为9~92[氟(F)到铀(U)]之间的元素均可测量
检测元素:同时分析元素达三十多种,可根据客户需要增加元素
含量范围:ppm~99.99%
检测时间:10秒以上
检测对象:标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率:超大超薄的SDD探测器,分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器低至125eV
激发源:铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
摄像头:高清摄像头
测井环境:超真空系统,10秒可抽到10Pa以下,大气、氦气均可以
准直器和滤光片:四组准直器(7、5、3、1mm),6种滤光片组合自动切换
自旋装置:可调速的自旋装置
检出限:对样品中的大多数元素来说,检出限达5~500ppm
真空系统:超真空系统,10秒可到10Pa
数据传输:数字多道技术,快速分析,高计数率
测试台:360°电动旋转式
保护系统:样品腔为电动控制,上盖打开时测试已完成
样品放置:*的样品杯设计,自带压环,可防止样品晃动
数字多道技术:计数率>50kcps,有效计数率高至500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃

c

采用公司新的能谱EDXRF软件,FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作,操作简易,对操作人员限制小的特点。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
全新的软件界面和内核,采用FP和EC软件组合的方法,应用面更加广泛。

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