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目录:先锋科技(香港)股份有限公司>>光谱相关>>中阶梯光栅光谱仪>> LIBS激光诱导击穿光谱分析仪

LIBS激光诱导击穿光谱分析仪
  • LIBS激光诱导击穿光谱分析仪
参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 品牌 其他品牌
  • 型号
  • 厂商性质 代理商
  • 所在地 北京市
属性

应用领域:医疗卫生,环保,石油,地矿,能源

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更新时间:2024-04-08 13:43:32浏览次数:4573评价

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应用领域 医疗卫生,环保,石油,地矿,能源
LIBS激光诱导击穿光谱分析仪不但适合实验室使用,同样适合工业设备的集成;强大的设计提供非常低的温度影响,使其能够承受恶劣的环境,同时可任意方向安装,以任何想要的方向来对准样品,不受场地及环境限制;

 

LIBS是Laser-Induced Breakdown Spectroscopy (激光诱导击穿光谱仪)的简称,该技术通过超短脉冲激光聚焦样品表面形成等离子体,利用光谱仪对等离子体发射光谱进行分析,以此来识别样品中的元素组成成分,进而可以进行材料的识别、分类、定性以及定量分析。

 

自从LIBS技术问世以来,该技术就被*为是一种前景广阔的新技术,将为分析领域带来众多的创新应用。LIBS作为一种新的材料识别及定量分析技术,既可以用于实验室,也可以应用于工业现场的在线检测;

 

LIBS弥补了传统元素分析方法的不足,尤其在微小区域材料分析、镀层/薄膜分析、缺陷检测、珠宝鉴定、法医证据鉴定、粉末材料分析、合金分析等应用领域优势明显,同时,LIBS还可以广泛适用于地质、煤炭、冶金、制药、环境、科研等不同领域的应用。

 

除了传统的实验室的应用,LIBS还是为数不多的可以做成便携装置的元素分析技术,更是目前为止被认为可以做在线分析的元素分析技术。这将使分析技术从实验室领域极大地拓展到户外、现场、甚至生产工艺过程中;

 

Spectral Industries 推出的全新时间门控LIBS测量系统,是一套高效,功能强大,通用型强的LIBS测量系统,无论在实验室或户外操作,均可*应对各种测试环境,甚至其IRIS 光谱仪可用于空间环境!

LIBS激光诱导击穿光谱分析仪具有如下特点及优势: 

超高数值孔径(F/2)基于*设计的IRIS 中阶梯光栅光谱仪的其LIBS系统可以获得优于其他对手的优质信噪比;

使用中阶梯光谱仪: 兼顾高分辨率(0.1-0.4nm)及宽的光谱覆盖范围180-800nm,880-1100nm

配备高效光学激光聚焦及信号收集系统:可以获得更低的探测极限以及更短的积分时间;

使用优选的全自动控制的激光源以及3轴电动位移台: 软件全自动控制,协调工作,同时保持OEM定制灵活性;

<10ns 精确时延抖动: 有效避免韧致辐射背景噪声干扰;

灵活小巧一体化的设计:不但适合实验室使用,同样适合工业设备的集成;强大的设计提供非常低的温度影响,使其能够承受恶劣的环境,同时可任意方向安装,以任何想要的方向来对准样品,不受场地及环境限制;

 LIBS激光诱导击穿光谱分析仪

Spectral Industries 的全套LIBS 系统包括:

IRIS 中阶梯光栅光谱仪

纳秒脉冲主动调Q激光器

用于门控LIBS 测量的脉冲延迟发射器

激光聚焦及信号收集光学系统

自动控制-3轴电动位移台

软件全硬件控制,Matlab数据处理作图;

LIBS 系统(未包括谱仪及样品台)

 IRIS 中阶梯光谱仪

SPECTRAL LIBS 系统指标参数

光谱仪

IRIS UV(200-800nm)or IRIS-DUV(氮气吹扫180-800nm,880-1100nm)

光谱仪

光学系统

高效激光聚焦及信号收集光学系统

激光器

可选择不同单脉冲能量及频率的 主动调Q 纳秒脉冲激光器

脉冲延迟发生器

<10 ns抖动 ,100ns 时间延迟步距调整

位移台

3轴电动位移台,50*50mm移动范围;(其他尺寸可选)

气体吹扫

吹扫接口阀门适用于深紫外测试:<200nm波段;

工作距离

> 50-500 mm (更大距离可选)

激光聚焦光斑尺寸

<=100 µm

 

IRIS 中阶梯光谱仪参数指标

光谱范围

180 - 800 nm and 880-1100nm (包括吹扫选项)

光谱分辨率

0.1 - 0.45 nm (@ 180-800 nm, for 25 µm wide slit)

F-数值孔径

f/2

狭缝尺寸

25 x 100 µm(其他尺寸可选: 10 x 100 µm2 and 50 x 100 µm2) 

波长稳定性

< 5 pm/K

尺寸

220 x 195 x 80 mm3 (包括相机)

重量

3 kg (包括相机)

相机

CMOS 探测器 (深紫外增强型),积分时间28 µs – 30 s

 

LIBS 系统元素探测极限(部分)

  

典型现场应用案例

 

实验室矿石表面Mapping分析

--钻孔岩心棒元素分布2D图谱

 

--锂矿岩石表面元素分布图

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