塞贝克系数/电阻测量系统ZEM

               ——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻                             

产品介绍：

塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的点，塞贝克系数和电阻都可以用种仪器来测量。

产品点：

♦  拥有温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器；

♦  测量是由计算机控制的，并且能够在定的温度下执行测量，并允许自动测量消除背底电动势；

♦  欧姆接触自动检测功能（V-I图）；

♦  可以用适配器来测量薄膜；

♦  可定制高阻型。 

产品结构：

样品腔部分：

工作原理图：

应用方向：

对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。

可选功能：

1. 薄膜测量选件

2.低温选件（温度范围-100℃到200℃）

3.高阻选件（可高达10MΩ）

参数配置：

附：

热电材料/器件测试设备

测试数据

烧结P型Si₈₀Ge₂₀塞贝克系数及电阻率测量结果

发表文章

1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945 

2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 

3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 

4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810 

5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.

用户单位

清华大学

中国科学技术大学

上海交通大学

复旦大学

南方科技大学

武汉理工大学

中国科学院上海硅酸盐研究所

中国科学院大连化学物理研究所