迈可诺技术有限公司
主营产品: 美国Laurell匀胶机,WS1000湿法刻蚀机,Cargille光学凝胶,EDC-650显影机,NOVASCAN紫外臭氧清洗机 |
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产品图片 | 产品名称 | |||
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SM120立式反射率测试仪 简单介绍:全自动八度角积分式立式反射率测试仪SM120,应用在电池片制绒工序监控环节,为客户电池片质量品质把控,降低损耗提供了有效的检测方案。 产品型号:SM120 所在地:武汉市 更新时间:2024-04-16 |
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SM280自动显微薄膜厚度测绘仪 简单介绍:SM280自动显微薄膜厚度测绘仪采用显微系统,可以进一步缩小光斑大小,从而实现非常优秀的空间分辨率。同时,SM280采用一体化设计,核心器件采用高分辨率、高灵敏度光谱仪和高精度的3轴移动平台。 产品型号:SM280 所在地:武汉市 更新时间:2024-04-16 |
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SM230自动光学薄膜厚度扫描测绘仪 简单介绍:SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自动光学薄膜厚度扫描测绘仪,由测绘主机、测绘平台、Y型光纤及上位机软件搭建而成,核心器件采用高分辨率、高灵敏度光谱仪和高精度的旋转平台, 产品型号:SM230 所在地:武汉市 更新时间:2024-04-16 |
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SM200系列光学薄膜厚度测量仪 简单介绍:SM200系列光学薄膜厚度测量仪是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自动薄膜厚度测绘仪,由测绘主机、测绘平台、Y型光纤及上位机软件搭建而成,核心器件采用高分辨率、高灵敏度光谱仪结合算法技术。 产品型号:SM200系列 所在地:武汉市 更新时间:2024-04-16 |
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FR-Scanner扫描型薄膜在线测厚仪 简单介绍:品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。 产品型号:FR-Scanner 所在地:北京市 更新时间:2024-04-16 |
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FR-pRo基础型膜厚仪(紫外/近红外-高分辨率) 简单介绍:品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。 产品型号:FR-pRo 所在地:北京市 更新时间:2024-04-16 |
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FR-portable便携式光学膜厚仪 简单介绍:品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。 产品型号:FR-portable 所在地:北京市 更新时间:2024-04-16 |
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FR-uProbe微米级光学薄膜测厚仪 简单介绍:品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精 产品型号:FR-uProbe 所在地:北京市 更新时间:2024-04-16 |
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FR-Basic UV/NIR-HR膜厚仪 简单介绍:品牌:希腊ThetaMetrisis 名词:膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。 产品型号:FR-Basic UV/NIR-HR 所在地:北京市 更新时间:2024-04-15 |
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