英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪
【简单介绍】
品牌 | OXFORD/英国牛津 |
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【详细说明】
英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪
英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。配置探针可由用户自行更换的SRP-4探头。相对于整个探头的更换,更换探针更为方便和经济。
测试原理:
CMI563采用微电阻测试技术,提供了精确测试表面铜铜厚(包括覆铜板、化学铜和电镀铜板)的方法。由于采用了目前市场上较为先进的测试技术,无论绝缘板层多厚,印刷电路板背面铜层不会对精确可信的测量结果产生影响。
常规参数:
铜厚测量范围:
非电镀铜:10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm),
电镀铜:0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
线形铜可测线宽范围:8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
准确度:±1% (±0.1 μm)参考标准片
精确度:非电镀铜:标准差0.2 %;
电镀铜:标准差0.5 %
分辨率:0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
接口:RS-232串行接口,波特率可调,用于下载至打印机或计算机
显示:4数位LCD液晶显示,2数位存储位置,字符高1/2英寸(1.27厘米)
存储量:13,500条读数
统计显示:测量个数,标准差,平均值,zui大值,zui小值。
单位:通过一个按键实现英制和公制的自动转换
电池:9伏电池
电池寿命:65小时连续使用
重量:9盎司(0.26千克)包括电池
尺寸:5 7/8英寸(长)×3 1/8英寸(宽)×1 3/16英寸(高) (14.9×7.94×3.02厘米)
另有耗材——面铜测厚仪探头销售。
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