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日立分析仪器(上海)有限公司>公司动态>日立分析仪器发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪X-Strata920

公司动态

日立分析仪器发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪X-Strata920

阅读:4043          发布时间:2018/7/4
 2018年6月19日,英国牛津:日立分析仪器公司(日立分析仪器),是日立高新技术公司(TSE:8036)旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日,日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪 X-Strata920 的功能,添置了新型高分辨率探测器和新型样品台配置。

 

 

 

日立分析仪器XRF镀层测厚仪系列在电子和金属表面处理行业已有超过40年镀层分析的成功经验。X-Strata920可确保镀层符合规格要求,并将镀层过量或过少镀层废料造成的浪费减至最少。随着X-Strata功能的扩展,用户可以通过该仪器进行更多工作。

 

这一款新型X-Strata意味着可选择高分辨率硅漂移探测器(SDD)或正比计数器定制仪器,以优化其性能。此外,它现在拥有四个腔室和基座配置,可处理各种形状和尺寸的样品,包括汽车行业中的复杂几何形状。

 

对于复杂的镀层结构,SDD可以提供优于正比计数器的优势,因为它更易分析具有类似XRF特征的元素,例如镍和铜。这扩大了可以用于分析的元素范围,包括磷 — 对于化学镀镍分析非常关键,并且可以更精确地测量较薄镀层,例如符合IPC-4552A的纳米范围的金。

 

日立分析仪器产品业务发展Matt KREINER表示:“X-Strata920以及日立分析仪器产品系列的其他XRF仪器因其未来前景、可靠性和易用性而闻名。SDD的加入以及多种配置选择能提高我们客户的分析能力和灵活性,以测量大量零件的复杂镀层。我们保留了高度直观的SmartLink软件,因此任何操作员(无论经验水平如何)都能够快速学会使用仪器并获得准确可靠的结果。我们的镀层产品,包括高级FT150微焦斑镀层测厚仪、手持式XRF光谱仪以及可进行快速便携式分析的CMI系列,40多年来在镀层测量领域一直深受信赖,我们很高兴能够提供这些改进成果。”



 

关于日立高新技术公司

日立高新技术公司总部位于日本东京,从事科学和医疗系统、电子设备系统、工业系统和先进工业产品等广泛领域的活动。公司2017财年的综合销售额约为6,877亿日元(约合63亿美元)。

 

关于日立分析仪器公司

日立分析仪器是日立高新技术集团于2017年7月创立的新全球性公司。该公司总部位于英国牛津,在芬兰、德国和中国开展研发和装配业务并在全球多个国家展开销售和支持业务。我们的产品系列包括:

FT系列、X-Strata 和 MAXXI 微焦斑 XRF 分析设备可测量单层和多层合金涂层厚度,可应用于质检和过程控制和科研实验室。

Lab-X5000和X-Supreme8000 台式XRF 分析仪可为石油、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料等多种行业提供质量保证和过程控制。

我们的PMI-MASTER、FOUNDRY-MASTER和 TEST-MASTER 系列直读光谱仪被世界各行各业用来进行快速和精确的金属分析。这些仪器采用光学发射光谱技术可测定所有重要元素,其检测限低,精度高,包括钢中的碳和几乎所有金属中所有技术相关的主要元素和微量元素。

X-MET8000手持分析设备,采用高精度XRF 技术,可为很多行业提供简单、快速和无损的合金分析,包括废旧金属分拣和金属品级筛选。

Vulcan 手持分析设备,采用 LIBS 激光技术,可一秒检测金属合金,为检测量大的金属行业客户提供了最佳检测解决方案。

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