近场扫描光学显微镜 - 中国化工仪器网

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C21906近场扫描光学显微镜

近场扫描光学显微镜NSOM也习惯称为扫描近场光学显微镜SNOM，是用于纳米材料表征唯一可获得优于光波长分辨率的手段。通常近场扫描光学显微镜与原子力显微镜AFM结合使用，因此近场扫描光学显微镜可以获得材料光学与形貌相关的信息。近场扫描光学显微镜通常可以获得以下信息：＊反射率的改变＊透过率的改变＊折射率、极化、样品材料的改变＊材料局部应力的改变引起光学性质改变＊材料磁的性质改变引起光学性质改变＊分子荧光＊拉曼迁移、SHG或其他效应引起的分子激励＊

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