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菲希尔MPOR涂层测厚仪
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X-射线荧光镀层测厚及材料元素分析仪
HELMUT FISCHER镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了最新的软件和硬件技术,FISCHER公司的X射线仪器具有其独特的特点。
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