Tek 吉时利4200A-SCS半导体参数分析仪
- 公司名称 湖南艾克赛普科技有限公司
- 品牌 泰克
- 型号
- 产地
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2024/2/18 8:14:04
- 访问次数 2329
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示波器，电子负载，万用表，数据采集记录仪，LCR测试仪，可编程电源，电能质量测试仪，电池测试仪，网络分析测试仪，红外热 像仪，频谱分析仪，振动测试仪，红外测温仪，光谱仪，风速仪，气体测试仪，信号发生器，工业内窥镜，过程校准仪，绝缘测试仪，逻 辑分析仪，汽车测试仪，光纤熔接机，噪音测试仪，电磁测试仪，光时域反射仪，超声波探伤仪，医学检测仪器，涂镀层测厚仪，玩具测 试仪器，光学测试仪器，精密分析天平，高压电力测试仪，色谱仪，试验机，测试软硬件方案，测试仪器系统集成
| 应用领域 | 能源,电子 |
|---|
长沙艾克赛普仪器设备有限公司是一家专注于仪器工控设备、测试方案系统集成的高新技术科技企业。作为专业的仪器设备及测控集成ATE提供商，多年来坚持自主研发创新，结合引进代理各大的优质仪器设备，致力于提供更科学智能的软硬件测试方案，广泛应用于科研行业、生命科学、医学、化学、化工、材料、环境、地质、能源、药物、刑事侦查和其他相关领域。
如有需求请致电，我们将为您提供优质的测试方案。
了解更多产品和测试方案请访问艾克赛普网站，欢迎联系艾克赛普获取终有效价格！
Tek 吉时利4200A-SCS半导体参数分析仪
参数查看，快速清晰。
推进大胆发现从未如此容易。4200A-SCS 参数分析仪从设置到运行检定测试的时间减少高达 50％，从而实现*的测量和分析能力。此外，嵌入式测量专业知识提供*的测试指导，并让您对终结果充满信息。
特点
- 用于 DC IV、CV 和脉冲 IV 测量类型的高级测量硬件
- 立即使用 Clarius 软件中所含的数百种用户可修改应用程序测试开始测试
- 自动实时参数提取、数据绘图、分析函数
准确的 C-V 表征
使用吉时利新出电容-电压单元 (CVU) 4215-CVU 测量一位数飞法。通过将 1 V AC 电源集成到吉时利行业良好的 CVU 架构中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的频率下进行低噪声电容测量。
特点
- 同类产品中能够驱动1 V AC 电源电压的 CV 表
- 1 kHz 频率，分辨率从1 kHz 到 10 MHz
- 测量电容、电导和导纳
- 使用 4200A-CVIV 多路开关多可测量四个通道
使用 4215-CVU 进行 Femtofarad (1e-15F) 电容测量
测量、 切换、 重复。
4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。
特点
- 无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
- 用户可配置低电流功能
- 个性化输出通道名称
- 查看实时测试状态
稳定的低电流测量，适用于 I-V 检定
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块，您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择，可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块，Keithley 可确保您获得准确的低电流测量，而停机时间很少甚至没有。
使用 4201-SMU 和 4211-SMU，通过高测试连接电容进行稳定的低电流测量
特点
- 不必将仪器送回工厂即可增加 SMU
- 进行 飞安测量
- 多达 9 个 SMU 通道
- 针对长电缆或大卡盘进行了优化
带分析探测器和低温控制器的集成解决方案
4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。
特点
- “点击”测试定序
- “手动”探测器模式测试探测器功能
- 假探测器模式无需移除命令即可实现调试
降低成本并保护您的投资
吉时利保障计划以按需服务事件的一小部分成本提供快速、高质量的服务。 只需点击一下或一个电话即可获得维修服务，在此过程中，无需报价或填写采购单，也不会有审批延误。
Tek 吉时利4200A-SCS半导体参数分析仪
| 产品技术资料 | 型号 | 描述 | 价格 |
|---|---|---|---|
| 查看产品技术资料 | 4200A-SCS-PKA 高分辨率 IV 套件 | 4200A-SCS：参数分析仪主机 4201-SMU：两个用于高容量设置的中功率 SMU 4200-PA：一个预放大器 8101-PIV：一个带有采样装置的测试夹具 | 索取报价 |
| 查看产品技术资料 | 4200A-SCS-PKB 高分辨率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS：参数分析仪主机 4201-SMU：两个用于高容量设置的中功率 SMU 4200-PA：一个预放大器 4215-CVU：一个高分辨率多频 C-V 单元 8101-PIV：一个带有采样装置的测试夹具 | 索取报价 |
| 查看产品技术资料 | 4200A-SCS-PKC 高功率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS：参数分析仪主机 4201-SMU：两个用于高容量设置的中功率 SMU 4211-SMU：两个用于高容量设置的高功率 SMU 4200-PA：两个预放大器 4215-CVU：一个高分辨率多频 C-V 单元 8101-PIV：一个带有采样装置的测试夹具 | 索取报价 |
| 查看产品技术资料 | 4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 | 用于使用硅 CMOS 技术进行的复杂 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 套件包括：
| 索取报价 |
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