EC-80P 日本napson手持式探针无损涡流法电阻测量仪
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 秋山科技(东莞)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型号 EC-80P
- 产地
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2020/9/18 9:00:27
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产品标签
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产地类别 | 进口 | 类型 | 其他 |
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应用领域 | 环保,农业,能源,印刷包装,纺织皮革 |
日本napson手持式探针无损涡流法电阻测量仪EC-80P
产品特点
- 只需触摸手持式探头即可测量电阻。
- 在电阻/薄层电阻测量模式之间轻松切换
- 使用JOG拨盘轻松设置测量条件
- 连接到连接器的可更换电阻测量探头可支持多种电阻
- (电阻探头:多可以使用2 + PN判断探头)
测量规格
测量目标
半导体/太阳能电池相关材料(硅,多晶硅,SiC等)
新材料/功能材料相关(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
导电薄膜相关(金属,ITO等)
硅基外延,离子与
半导体相关的进样样品化合物(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*请与我们联系)
测量尺寸
无论样品的大小和形状如何均可进行测量(但是,大于20mmφ且具有平坦的表面)
测量范围
[电阻] 1m至200Ω・ cm
(*所有探头类型的总量程/厚度500um)
[ 抗剪强度] 10m至3kΩ / sq
(*所有探头类型的总量程)
*有关每种探头类型的测量范围,请参阅以下内容。
(1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至0.05Ω-cm)
(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
(3 ))高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-cm)
(4)S-高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)
(5)太阳能晶片:5至500Ω/□(0。 2至15Ω-cm)