FLASH FOCUS 日本KJTD体积聚焦相控阵超声波探伤仪

日本KJTD体积聚焦相控阵超声波探伤仪FLASH FOCUS

128通道并行驱动型高速相控阵探伤系统现已上市！
在过去很难进行瑕疵检测的特殊环境中以及在需要瑕疵检测速度的特殊环境中，Flash Focus与超声波瑕疵检测兼容。高速，高精度探伤支持所需的高质量保证。

特征

多可并行驱动128个元件

通过增加同时使用的元件数量，提高了光束聚焦能力，并且还增加了扫描图案。

线性扫描

部门扫描

区域重点

动态深度聚焦

体积聚焦技术（专li3704065）

xin的相控阵技术可实现高速，高分辨率的缺陷检测。

可以使用各种探针检测缺陷

除了普通的线性探针，我们还使用矩阵探针和细间距探伤实现了更细的束斑尺寸。通过使用不同的探针可以在各种情况下进行检查。

线性探针

年度矩阵探测

方阵探头

日本KJTD体积聚焦相控阵超声波探伤仪FLASH FOCUS

体积聚焦技术是我公司开发的相控阵超声探伤技术（专li3704065）。常规的相控阵扫描方法如下。

• 对于线性或扇形扫描，将发射光束指向一个方向，并且焦点位于轴的中心
• DDF或区域焦点一次聚焦在一个点上，然后继续沿光束移动

另一方面，体积聚焦是一次扫描整个横截面（例如样品体积）的新方法。通过同时激发所有元素来创建一个不分散的平面波。

每个平行的元素都从底面，夹杂物，缺陷等处接收反射的脉冲能量。然后，并行数字硬件处理实时创建B扫描和C扫描。

从概念上讲，体积焦点类似于DDF，但体积焦点可以覆盖所有横截面或体积，而不仅仅是沿深度轴。