仪COSMOS-3X 日本电测densoku高精度荧光X射线膜测厚仪

日本电测densoku高精度荧光X射线膜测厚仪仪COSMOS-3X

荧光X射线膜厚计COSMOS-3X的功能

采用双重过滤器

通过使用除数值滤波器以外的机械滤波器（双重滤波器），可以在jia条件下进行测量，从而始终获得gao的精度。

完整的报告创建功能

通过采用MS-Windows软件，可以轻松捕获测量屏幕，并增强报告创建功能。使用多任务功能，即使在测量期间也可以进行包括报告创建在内的其他处理。

5种准直仪

小准直仪为0.1φmm，可以测量极小的零件。标准，0.1、0.2、0.5、1.0、2.0
另外，有两种特殊规格可供选择。
・ 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
・ 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自诊断功能和X射线管维护功能

使用自诊断功能，可以迅速解决设备故障。此外，增加了显示X射线管使用时间和使用寿命的功能，以支持维护安全。

膜厚测量中的频谱显示

通过多通道进行光谱分析高速处理使显示被测物的光谱变得容易。（处理速度约2-3秒）

在测量部分显示监控图像

在Windows屏幕上捕获X射线照射单元并显示X射线照射单元。准直仪提供了改变尺寸的放大倍率功能。

Be 窗口X射线管（选件）提高的性能（高精度）

我们已经为荧光X射线胶片厚度计准备了Be窗口X射线管。

通过使用Be窗口X射线管，Cr测量和Ni测量的重复测量精度显着提高。

与标准X射线管的比较

Sn等的高能量（高原子序数）测定与以前相同。

当测量低能量（低原子序数）的Cr和Ni时，Cr的重复性提高了约3倍，Ni的重复性提高了约2倍。

当测量两层时，中间层中Ni的测量精度提高了约20％。

通过使用Be窗口X射线管，Cr的荧光X射线强度比常规标准设备的荧光X射线强度高大约9倍。

因此，可以在短时间内以与以前相同的精度进行测量。

请考虑使用此Be窗口X射线管。

日本电测densoku高精度荧光X射线膜测厚仪仪COSMOS-3X

荧光X射线膜厚计COSMOS-3X的规格

（注）规格如有变更，恕不另行通知。