RT-V反射透射测量仪

一、概述

       RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱，并进一步计算获得样品色坐标，以及薄膜厚度、光学常数等信息。

 ■  高性价比穿透率、反射率测量解决方案

 ■  色坐标计算和薄膜特征解析

 ■  模块化定制，支持在线集成应用

二、产品特点

■ 采用高性能进口氘卤二合一光源，光谱范围覆盖可见光到近红外范围；

■ 支持全光谱范围反射率高精度量测，基于薄膜层上下界面反射光干涉原理，轻松解析单层至多层薄膜特征；

三、产品应用

       RT系列反射透射测量仪，可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量，并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。

技术参数

武汉颐光科技有限公司(Wuhan eoptics Technology Co., Ltd.)是国内专业从事椭偏仪以及光学纳米测量设备研发、制造与销售的高新技术企业，公司由多位具有二十多年偏振光学测量经验的专家联合创办，与华中科技大学紧密合作，是国内椭偏光学仪器领域颇具优势的技术团队。

公司注册于武汉东湖国家自主创新示范区，立足光谷，面向全球，为科研和工业用户提供仪器、软件、服务等综合解决方案。

 产品广泛应用于集成电路、半导体、光伏太阳能、平板显示、LED照明、存储、生物、医药、化学、电化学、光学镀膜、光刻材料等众多领域。