官方微信|手机版

产品展厅

产品求购企业资讯会展

发布询价单

化工仪器网>产品展厅>物理特性分析仪器>测厚仪>白光干涉测厚仪>OPTM 薄膜测厚仪

分享
举报 评价

OPTM 薄膜测厚仪

具体成交价以合同协议为准

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


      大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价·检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源·照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价·检查。

  以高速·高精度·高可靠性且有市场实际应用的分光器MCPD系列为基础, 在中国的显示器 市场上有着20年以上销售实例, 为许多厂家在研究开发、生产部门所使用。并且在光源·照明 相关方面,对研究机构、各个厂家的销售量在逐步扩大。

  在中国的苏州有设立售后服务点,为了能迅速且周到的为顾客服务而努力。

  我公司的母公司日本大塚电子集团,隶属于大冢集团, 一直以来都谨守大冢集团 的企业理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢为人类的健康创造革新的产品),不断的推出创新产品,面向开展业务,为社会作出贡献。

 

zeta电位?粒径?分子量测量系统,晶圆在线测厚系统,线扫描膜厚仪,显微分光膜厚仪,线扫描膜厚仪,分光干涉式晶圆膜厚仪,相位差膜?光学材料检测设备,非接触光学膜厚仪,小角激光散射仪,多检体纳米粒径量测系统,量子效率测量系统

产地类别 进口 价格区间 50万-100万
应用领域 化工,电子,印刷包装,汽车,电气

 OPTM series薄膜测厚仪

 

大塚电子薄膜测厚仪使用显微光谱法在微小区域内通过反射率进行测量,可进行高精度膜厚度/光学常数分析。

可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度,例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上,能达到1/点的高速测量,并且搭载了即使是初次使用的用户,也可容易出分析光学常数的软件

 

特点

  • 头部集成了薄膜厚度测量所需功能
  • 通过显微光谱法测量高精度反射率(多层膜厚度,光学常数)
  • 11秒高速测量
  • 显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)
  • 区域传感器的安全机制
  • 易于分析向导,初学者也能够进行光学常数分析
  • 独立测量头对应各种inline客制化需求
  • 支持各种自定义

 

 

OPTM-A1

OPTM-A2

OPTM-A3

波長范围

230 ~ 800 nm

360 ~ 1100 nm

900 ~ 1600 nm

膜厚范围

1nm ~ 35μm

7nm ~ 49μm

16nm ~ 92μm

测定时间

1秒 / 1点

光斑大小

10μm (小约5μm)

感光元件

CCD

InGaAs

光源規格

氘灯+卤素灯  

卤素灯

电源規格

AC100V±10V 750VA(自动样品台规格)

尺寸

555(W) × 537(D) × 568(H) mm (自动样品台规格之主体部分)

重量

约 55kg(自动样品台规格之主体部分)

 

测量项目:

  • 反射率测量
  • 多层膜解析
  • 光学常数分析(n:折射率,k:消光系数)

 

 



化工仪器网

采购商登录
记住账号    找回密码
没有账号?免费注册

提示

×

*您想获取产品的资料:

以上可多选,勾选其他,可自行输入要求

个人信息: