RETS-100 半导体行业相位差膜・光学材料检查设备
- 公司名称 大塚电子（苏州）有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大冢
- 型号 RETS-100
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2020/6/11 16:38:42
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zeta电位?粒径?分子量测量系统，晶圆在线测厚系统，线扫描膜厚仪，显微分光膜厚仪，线扫描膜厚仪，分光干涉式晶圆膜厚仪，相位差膜?光学材料检测设备，非接触光学膜厚仪，小角激光散射仪，多检体纳米粒径量测系统，量子效率测量系统
| 产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 医疗卫生,化工,电子,印刷包装,电气 |
半导体行业相位差膜・光学材料检查设备 RETS-100
半导体行业相位差膜・光学材料检查设备对应范围广，从反射型・透过型type的已封入液晶的cell到带有彩色滤光片的空cell都可对应。
产品信息
特 点
• 采用了偏光光学系和多通道分光检出器
• 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板
• 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备
测量项目
• 封入cell gap
• twist角
• rubbing角
• pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］
• 空cell gap
• 相位差（复折射相位差）的波长分散
• 光学轴
• 椭圆率/方位角
• 三次元折射率/Rth/β
• 分光光谱/色度
测量对象
• 液晶cell
- 透过、半透过型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感应电）
- 反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）
• 光学材料
- 其他（相位差・椭圆・偏光膜、液晶材料）
仕 样
型号 | RETS series |
|---|---|
样品尺寸 | 20mm×20mm ～ * |
cell gap测量范围 | 0.1μm ～ 数10μm |
cell gap重复性 | ±0.005μm |
检出器 | 多通道分光光度计 |
测量波长范围 | 400nm ～ 800nm |
光学系 | 偏光光学系 |
测量口径 | φ2, φ5, φ10 (mm) |
光轴倾斜机构 | -20 ～ 45°、-45 ～ 45°等 |
* 大型玻璃基板也可用（2000mm×2000mm以上）
测量案例
相位差与液晶层间隙值
液晶面内分布图
采购中心
化工仪器网