Line--scan 线扫描膜厚仪
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 大塚电子(苏州)有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大冢
- 型号 Line--scan
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2020/6/12 16:24:06
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产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
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应用领域 | 医疗卫生,电子,印刷包装,电气 |
线扫描膜厚仪可在线检查整面宽幅薄膜,适用于生产。不受偏差的影响,高速测量,时间间隔仅10豪秒。
线扫描膜厚仪特点
- 采用线扫描方式检测整面薄膜
- 硬件·软件均为创新设计
- 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援
- 实现高精度测量
- 实现高速测量
- 不受偏差影响
- 可对应宽幅样品(TD方向大可测量10m)
式样
测量项目 | 膜厚(FFT) |
位置分解能 | 1mm |
测量宽幅 | 500mm |
波长范围 | 400~920nm |
各单元的波长宽幅 | 约0.6nm |
膜厚测量范围 | 2~250μm |
测量间隔 | 10msec~ |
测量案例
500mm宽的包装薄膜
实时测量,全宽、全长的不均匀性一幕了然。
因为我们是分光膜厚测量的,所以能实现高精度全宽·全长的测量。