nanoSAQLA 多检体纳米粒径测量系统
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 大塚电子(苏州)有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大冢
- 型号 nanoSAQLA
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2020/6/30 13:21:24
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测量范围 | 0.6nm~10μm微米 | 产地类别 | 进口 |
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分散方式 | 湿法分散 | 价格区间 | 20万-30万 |
仪器种类 | 动态光散射 | 应用领域 | 食品,电子,制药 |
多检体纳米粒径测量系统 nanoSAQLA
多检体纳米粒径测量系统nanoSAQLA利用动态光散射法(DLS法)的粒径测量(粒径0.6nm~10μm)仪器。
追求更高品质管理的需求,搭载了各种功能。
可对应检体范围广,低浓度~高浓度类,新光学系,轻便•小型,实验室标配。实现标准1分钟高速测量。
新产品,非浸泡型,不受夹杂物的影响,无自动取样器,“5检体连续测量”的标准设备。
特点
- 只需一台,轻松实现5检体连续测量
- 低浓度到高浓度都可对应
- 高速测量,标准时间1分钟
- 搭载了简单的测量功能 (1键测量)
- 内置非浸泡型的cell block,无分注夹杂物
- 搭载温度梯度功能
测量范围(理论值)
- 粒径 0.6nm~10μm
- 浓度范围 0.00001~40%
- 温度范围 0~90℃*
式样
型号 | 多检体纳米粒径测量系统 |
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测量原理 | 动态光散射法 |
光源 | 高出力半导体激光*1 |
检出器 | 高感光度APD |
连续测量 | 5检体 |
测量范围 | 0.6nm ~ 10μm |
对应浓度 | 0.00001 ~ 40% *2 |
温度 | 0 ~ 90℃ (有温度梯度功能) *3 |
規格 | 遵照 ISO 22412:2017 |
遵照JIS Z 8828:2013 | |
遵照JIS Z 8826:2005 | |
尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
重量 | 约18 kg |
软件 | 平均粒径解析 (累积法解析) |
粒度分布解析 | |
(Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法) 粒度分布叠写 逆相关函数?残差plot 粒径monitor 粒径显示范围 (0.1 ~ 106 nm) 分子量计算功能 |
*1 根据激光安全基准 (JIS C6802)级别区分,本仪器的安全级别为1级。
*2 Latex120nm:0.00001 ~ 10%、牛黄胆酸:~40%
*3 标准glass cell的批量测量的情况。
一次性cell或连续测量时, 15 ~ 40℃ (不对应温度梯度)
测量范例
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