HO-ED-INT-15 holmarc HO-ED-INT-15电子散斑图案干涉仪
- 公司名称 北京思睿维科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型号 HO-ED-INT-15
- 产地 印度
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2020/4/3 12:20:59
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产地类别 | 进口 | 应用领域 | 医疗卫生,生物产业 |
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holmarc HO-ED-INT-15电子散斑图案干涉仪(ESPI)是研究表面变形的一种非破坏性光学方法。它依赖于来自测试对象的漫反射光与参考光束之间的干涉,这是ling敏的干涉技术之一,因此我们可以测量平面内或平面外的亚微米级位移。变形前后的图像由CCD相机记录,并使用图像分析软件进行分析。变形会导致条纹图案发生变化,可以使用提供的软件来分析这些变化来发现变形。
由于此干涉仪对振动噪声高度敏感,因此霍尔马克的ESPI带有振动隔离光学面包板。使用输出功率为5mW的线偏振632.8nm He-Ne激光器作为光源。分束器将激光束分成两部分。透射光束通过空间滤光片组件均匀照射测试对象,而反射光束作为参考光束落在CCD上。照明的测试对象的图像由变焦镜头和CCD捕获。
我们的ESPI系统允许用户在同一系统中执行电子斑点剪切干涉测量,而不会干扰光学装置和对准。Holmarc的相机应用程序软件有助于捕获和分析图像。
实验范例
使用电子散斑图案干涉仪(ESPI)观察和研究物体相对于机械和热负荷的变形
使用电子散斑切变干涉仪(ESSI)观察和研究物体相对于机械和热负荷的变形
技术指标
激光:He-Ne 5mW @ 632.8nm。
扩束镜:带针孔的20X显微镜物镜。
变焦镜头:尼康®
相机:1 / 2.5“ 5 MPC MOS颜色
软件:Holmarc相机应用软件和图像分析软件。
光学面包板:1200mm x 900mm尺寸,带有隔振支架。
特征
可以在可见光下进行测量
非接触和全场测量
物体轮廓和位移测量
holmarc HO-ED-INT-15电子散斑图案干涉仪
此款产品不用于医疗,不用于临床使用,此产品仅用于科研使用。
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