电子探针X射线显微分析仪
- 公司名称 北京中科光析化工技术研究所-J
- 品牌 Agilent/安捷伦
- 型号
- 产地
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2019/4/29 17:13:10
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价格区间 | 面议 | 仪器种类 | 国产 |
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仪器简介:电子探针X射线显微分析仪不仅有较高的X射线检出角,同时由于使用全聚焦的X射线分光晶体,能兼顾X射线检测的高灵敏度和高分辨率,并配有高稳定的电子光学系统,真空系统及高精度机械系统以及牛津X-射线电制冷能谱仪,是目前*的微区成分定量分析和形貌观察的大型科研仪器之一。
仪器主要特点及技术指标:
l分析元素范围: 4Be~94Pu
l电子束流稳定性:好于1.5×10-3/H
l二次电子像分辨率:6nm
l加速电压:0~30kV
lX射线检出角:52.5°
l放大倍数:50×~300,000×
l分析速度:自动全元素定性分析时间≤60s
l大样品尺寸:100mm´100mm´50mm
l样品台小移动间距为0.01微米,机械系统精密度高
l可观察二次电子像(SEI),背散射电子像(BEI),吸收电子像,光学显微像,X射线面分布像等。兼顾微区成分定量分析和形貌观察
仪器主要功能及其用途:
l非破坏分析(分析时,被分析样品不会损坏,可以实现同点重复分析)
l微米尺度的空间分辨分析
l轻元素的定量分析
l元素的面分布分析
l痕量元素的成分分析
l精细结构分析
电子探针X射线显微分析仪适用于材料(陶瓷,合金,半导体材料等)以及矿物、岩石等固体材料的微区化学组成定性和定量分析,微区化学组成线分析,微区化学组成面分析以及材料、矿物和岩石等的微区形貌观察、成分分布图像等,是对试样微区组织结构,表面形貌观察及元素定量分析的有效手段。