Genesis XM系列X射线能谱仪(EDX)
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 EDAX Inc.美国伊达克斯有限公司-J
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- 产地
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2019/4/2 16:10:19
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1.GENESIS X射线能谱仪(EDS, EDX)2.电子背散射衍射分析系统 EBSP/OIM (EBSD)3.LEXS/TEXS新型高精度自动聚焦波谱仪 (WDS, WDX)4.TEM 自动晶体学分析系统 ACT/TOCA
5.EAGLE III X射线微探针荧光能谱仪 (XRF)
价格区间 | 面议 | 探测器类 | 锂漂移硅探测器Si(Li) |
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仪器种类 | 进口 |
Genesis XM系列X射线能谱仪(EDX)已广泛应用于国内外各种型号的扫描电镜和透射电镜,并且可以同EDAX公司的OIM(电子背散射衍射取向成像分析系统)和ACT(自动晶体学分析系统)构成一体化分析系统。
Genesis XM系列X射线能谱仪(EDX)技术参数:
1.探头分辨率优于129eV,峰背比优于20000:1
2.检测元素范围Be4 - Es99
3.大计数率500,000cps
4.大图象采集分辨率8192x6400象素(矩形);8192x8192像素(方形)
5.大面分布图采集分辨率2048x1600象素(矩形);2048x2048(方形)
主要特点:
1.探头指标高,性能好,寿命长。
2.全新32位软硬件系统,工作可靠,效率高。
3.具有操作引导的集成式界面,使用直观方便。
4.具有多种专有技术软件,分析精度高。
5.软件种类及功能丰富,且具有报告生成系统。