MPS-C-3X0磁体探针台系统是世界上*个探针台，能够在被测试的器件上提供三维磁场控制。

真正*的zhuan li 设计使自旋电子器件的做晶圆级测试、纳米电子和许多其他材料和器件在所需磁场中准确的测试和测量。自旋流和自旋矩振荡器测试，磁模拟和识别复杂的多层结构的各向异性只是应用我们的MPS系统的几个案例。

MPS系列磁体探针台特点：

• MPS系列磁体探针台是市场上wei yi能提供在应用磁场中对任意两或三维定位的探针台，是自旋电子器件的特性和自旋电子学研究的一个终的探针台解决方案。

• MPS系列磁探针台是wei yi在市场上提供的晶圆级别的矢量磁场探测的探针台，特适合于在生产环境中自旋和磁电子器件测试。

• MPS系列磁体探针台*可定制的，基于开源的LabVIEW的控制软件，很容易与较常见的测试和测量设备集成。

• 高分辨率微定位器40、80、100和200tpi下探针的微米级定位螺钉。

• 数据收集和/或分析与广泛的输出格式和选项可用。

• 系统提供了三维霍尔探头，以提供的稳定性和精度所施加的磁场通过闭环控制。

可选项：

• 升级为150mm或200mm晶圆。

• 扩展磁场均匀性/稳定性。

• 高分辨率显微镜。

• 用于探测期间的域成像偏振显微镜。            

• 升级射频探针            

• 扩展温度范围探测          

• 相机的广泛选择          

• 晶片卡盘广泛的选择            

• 对micropositioners广泛的选择，探针和探针*武器           

• 超真空泵        

• 受控环境测量