空间光干涉量化成像分析系统

一、公司简介

      Phi Optics有限公司于2009年由光学博士和材料科学研究博士在美国成立，公司为应对市场需求致力于开发量化相差成像设备。基于其量化相差成像平台，Phi Optics公司正在开发下一代光学成像系统，Phi optics平台的目标是在多变的纵向市场与传统光学显微镜竞争，在大量保护证书及Phi Optics的不断开发的支持下，公司主要针对生命科学、医学诊断及纳米技术，半导体技术等开发应用。

Phi Optics技术平台采用标准工具及处理过程，综合传统可调光学显微镜的性能（例如荧光，DIC，相差等）与实时3D断层扫描量化相差成像于一体，其整合性对于那些要求低成本，快速，准确量化纳米材料的应用提供了一个非常突出的优势。目前该系统在全世界专机200台以上，发布文献无数。

二、空间光干涉量化成像分析系统产品介绍

空间光干涉量化成像分析系统  技术原理

Phi Optics SLIM技术将相衬显微技术和全息成像术整合为一体，是一款非侵入式的空间光成像技术；采用*的四波横向剪切干涉检测技术，利用空间非相干光源的白光成像，参照光与照射光都通过样本，不受光源极性变化影响，保证更好的横向分辨率，无光漂白影响，无需染色，避免光毒性，直接通过将样本中的光程差并将其转化成厚度，干物质面积浓度和折射率图。Phi Optics的SLIM工具能加载所有主要品牌的相差显微镜上（放大倍数从10x-100x），通过C接口连接，并使用显微镜的白光做光源。应用空间光干涉度量法对细胞结构及动态性检测，非常灵敏。