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化工仪器网>产品展厅>物理特性分析仪器>硬度计>里氏硬度计>Equotip Piccolo 2 Equotip Piccolo 2 便携式硬度计

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Equotip Piccolo 2 Equotip Piccolo 2 便携式硬度计

具体成交价以合同协议为准

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联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


京海兴乐科技(北京)有限公司

公司主要提供UT(超声)MT(磁粉)PT(渗透)RT(射线)等设备及周边耗材

主要经营品牌:美国奥林巴斯OLYMPUS(原泛美)、美国GE(原德国KK)、美国磁通Magnaflux

超声电子、SIUI、瑞典兰宝、美国SP公司、美国达高特、德国MR、英国易高、新美达、船牌、等等

提供的无损检测仪器设备主要有超声波探伤仪、相控阵探伤仪、超声波测厚仪、TOFD探伤仪、超声波探头、相控阵探头、涡流探伤仪、涡流探头、涡流阵列探伤仪、磁粉探伤仪、磁粉、紫外线灯、照度计、工业扫查器、航空航天检测系统、着色渗透剂、荧光渗透线、工业内窥镜、工业显微镜、光谱(合金)分析仪、工业X光机、工业CT、CR、DR、工业洗片机、管材的无损检测解决方案、复合材料超声波自动化检测、超声波板材/管材检测系统、大型压力容器超声波检测系统、汽车点焊超声波检测设备,以及其它各类型分析检测仪器。

长期以来,依托高素质的技术人员和销售队伍,本着诚信守法,客户*的经营原则,以良好的信誉、丰富的经验、周到的服务,为客户提供了*的检测设备及技术解决方案,赢得了国内外广大用户的信赖和好评。我们提供的设备、系统及方案应用于中国的各种*工业领域,

用户行业包括航空航天,核能电力,船舶制造,海洋石油,石油化工,机械制造,铁路交通,进口商检,技术监督,高校及研究机构等。依托高素质的技术人员和销售队伍,本着守法,诚信,客户*的经营原则,公司以良好的信誉,周到的售前和售后服务,赢得了广大用户的信赖和好评。

超声波探伤仪,磁粉探伤仪,黑光灯,探伤剂,胶片,硬度计,测厚仪,辐射仪,照度计等等

测定材料 金属硬度计 价格区间 面议
仪器类型 便携式

Equotip Piccolo 2 便携式硬度计

Equotip Piccolo / Bambino 2便携式硬度计​

  • 结构小巧、外壳坚固的高集成一体式里氏 硬度检测仪。非常适合快速现场硬度检测。为狭窄空间和凹面提供可选的 DL 探头。Equotip Piccolo 2 可将数据传送至电脑。 

Proceq 的 Equotip 可对几乎任何物体、抛光部件及热处理表面进行检测。使用动态回弹检测方法(依照 Leeb)、静态 Portable Rockwell 硬度检测和超声波接触阻抗 (UCI) 方法进行硬度测量。

京海兴乐科技(北京)有限公司提供探伤仪仪器维修,产品计量,技术培训,产品说明书,产品配件等。;服务范围: 船舶及船用产品的超声探伤-UT磁粉探伤-MT;渗透检测(PT)、射线探伤-RT涡流探伤-ET等产品。(奥林巴斯/汕超/美国GE/达高特/中科汉威/友联/声纳/)配件:相控阵探头,直探头,斜探头,连接线,探头线,保护膜,试块,耦合剂,双晶探头,表面波探头,小径管探头,小角度探头,水浸探头,非金属探头,可拆式探头,可变角度探头,窄脉冲探头、测厚探头、高温耦合剂及超声探伤-UT磁粉探伤-MT;渗透检测(PT)、射线探伤-RT涡流探伤-ET等产品。

Equotip 便携式金属硬度检测仪,里氏 (Leeb)、洛氏 (Rockwell) 和超声波接触阻抗(UCI)

Equotip 便携式硬度检测仪

打破固定台式硬度检测的局限性

Proceq 的 Equotip 可对几乎任何物体、抛光部件及热处理表面进行检测。使用动态回弹检测方法(依照 Leeb)、静态 Portable Rockwell 硬度检测和超声波接触阻抗 (UCI) 方法进行硬度测量。这一瑞士制造的硬度检测仪外壳坚固,设计为在实验室、工场、生产设备或现场进行便携式硬度检测。这款来自 Proceq 的全新上市的产品带来 Equotip Live 最In 解决方案:使用蓝牙与 iOS 应用连接和*的同步技术。

自 Proceq 在 1975 年发明了 Leeb 测量原理以来,Equotip 已经成为便携式硬度检测方面被全球广泛认可的测量技术和实际的行业标准。可选择不同量程范围冲击装置和测试块及配件,涵盖了绝大部分应用。

型号

 

Equotip Live UCI

Equotip Live Leeb D

Equotip 550 UCI

Equotip 550 Portable Rockwell

Equotip 550 Leeb

Equotip Piccolo / Bambino 2

产品描述

Equotip Live UCI 便携式硬度测量计让团队间的合作变得无比便捷。Equotip iOS app为您即时记录和分析测量数据并且随时分享给您远程的团队。

随着无线EquotipLive Leeb D 型冲击装置和直观的Equotip程序你可以测量和收集任何硬度数据表。通过自动同步功能启用数据的全局传输,并且可以通过电子邮件和其他渠道共享报告。功能包括一个安全的网络平台–集中报告模板和档案管理,以及完整的数据跟踪,记录和连续的云备份防止数据丢失。Equotip Live 所有权是为最初的设立捐款和每月的小额费用提供的——这保留了商业资本,同时允许精确的现金流管理。该软件包包括免费应用程序和更新,加上云备份,以及更换成本低。 

灵活的 UCI 硬度检测仪用于具有任何形状和热处理表面的细粒材料。获得可调节检测,可负载和涵盖广泛的测试范围。坚固的触摸屏带有增强的软件应用和分析功能。 

用于刮擦敏感、抛光及细小部件的便携洛氏硬度检测仪。它通过微米级的细小穿透,具有的灵敏度。坚固的触摸屏带有增强的软件应用和分析功能。 

功能齐全的里氏硬度检测仪适用于重型、大型或已安装部件的现场检测。坚固的触摸屏设计提供的用户体验以及最高质量的测量和数据分析。增强的软件功能和分析功能。

结构小巧、外壳坚固的高集成一体式里氏 硬度检测仪。非常适合快速现场硬度检测。为狭窄空间和凹面提供可选的 DL 探头。Equotip Piccolo 2 可将数据传送至电脑。 

 

 

 

    
优势

无线 UCI 探头

 

无线 UCI 探头

即时分享您的测量和报告

 

即时分享您的测量和报告

实现完整数据可追溯性的记录表

 

实现完整数据可追溯性的记录表

无线冲击装置和简洁的用户界面

 

无线冲击装置和简洁的用户界面

轻松地在世界范围内实时共享测量和报告

 

轻松地在世界范围内实时共享测量和报告

全数据的可追溯性记录和媒体添加

 

全数据的可追溯性记录和媒体添加

与 Leeb 和 Portable Rockwell 相结合

 

与 Leeb 和 Portable Rockwell 相结合

屏幕反馈以减少由操作员引起的测量误差

 

屏幕反馈以减少由操作员引起的测量误差

内置强大的报告功能,随时准备好可用的数据资料

 

内置强大的报告功能,随时准备好可用的数据资料

与 Leeb 和 UCI 相结合

 

与 Leeb 和 UCI 相结合

与固定式 Rockwell 硬度检测仪同样可靠、准确和标准化,但比之更快

 

与固定式 Rockwell 硬度检测仪同样可靠、准确和标准化,但比之更快

内置强大的报告功能,随时准备好可用的数据资料

 

内置强大的报告功能,随时准备好可用的数据资料

可使用完整的 Leeb 探头包,并与 Portable Rockwell 和 UCI 相结合

 

可使用完整的 Leeb 探头包,并与 Portable Rockwell 和 UCI 相结合

具有所有 Equotip 产品倍受肯定的高精度

 

具有所有 Equotip 产品倍受肯定的高精度

内置强大的报告功能,随时准备好可用的数据资料

 

内置强大的报告功能,随时准备好可用的数据资料

快速现场检测的入门级型号

 

快速现场检测的入门级型号

紧凑外壳和自动角度纠正便于灵活使用

 

紧凑外壳和自动角度纠正便于灵活使用

具有所有 Equotip 产品倍受肯定的高精度

 

具有所有 Equotip 产品倍受肯定的高精度

默认单位

HV (UCI)

HL

HV (UCI)

μm, µinch

HL

HL

可用单位

HB, HV, HLD, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA

HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA

HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA

HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA

HB,HV,HRA,HRB,HRC,HS,MPA

HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA(仅 Equotip Piccolo 2)

可用探头

具有从 HV1 至 HV10 可调节测试负载的通用探头

Leeb D

UCI(可调节 HV1 – HV5)

Portable Rockwell (50N)

Leeb D / DC / DL / S / E / G / C

Leeb D / DL

与其他方法相结合

 

Leeb,Portable Rockwell

Leeb,UCI

Portable Rockwell,UCI

 
平均粗糙度 Ra (µm / µinch)

12.5 / 500

2 / 80

12.5 / 500

2 / 80

7 / 275 (Leeb G)

2 / 80

最小质量 (kg/lbs)

0.3 / 0.66

0.05 / 0.2

0.3 / 0.66

无要求

0.02 / 0.045 (Leeb C)

0.05 / 0.2

最小厚度 (mm/inch)

5 / 0.2

3 / 0.12

5 / 0.2

10 x 压入深度

1 / 0.04 (Leeb C)

3 / 0.12

应用

 

Equotip Live UCI

Equotip Live Leeb D

Equotip 550 UCI

Equotip 550 Portable Rockwell

Equotip 550 Leeb

Equotip Piccolo / Bambino 2

标准到大对象      
圆形对象 与支撑环结合使用  与支撑环结合使用与支撑环结合使用
轻薄对象    带有冲击装置 Leeb C 
非常坚硬的对象    带有冲击装置 Leeb S 和 E 
铸件    带有冲击装置 Leeb G 
抛光的对象    带有冲击装置 Leeb C 
不易接触    带有冲击装置 Leeb DC 和 DL带有冲击装置 Leeb DL
细小对象      
热处理表面      
其他应用

 

 

  • 适合物联网 (IoT) 和工业 4.0 环境
  • 法兰, 发动机组, 轴, 齿轮, 起落架, 纸卷检测, 线圈, 钢筋, 管道 与 热处理

 

 

 

 

 

 

 

 

 

功能

 

Equotip Live UCI

Equotip Live Leeb D

Equotip 550 UCI

Equotip 550 Portable Rockwell

Equotip 550 Leeb

Equotip Piccolo / Bambino 2

仪器固件
  • iOS 应用包括免费更新( 以了解兼容性信息)
  • 带预定义快捷方式的热点
  • 读数的音频输出,将手机置于口袋亦可听到
  • 屏幕指南
  • 冲击方向自动补偿
  • 验证和校准信息以获得更高的可靠性
  • iOS应用程序,包括免费更新。
  • 获取兼容性信息 。
  • 预定快捷键
  • 读数的音频输出,将手机置于口袋亦可听到
  • 屏幕指南
  • 冲击方向自动修正
  • 验证和校准信息以获得更高的可靠性
  • 剖面视图
  • 一步校准
  • 冲击方向自动补偿
  • 个性化用户资料和视图
  • 集成至自动测试环境中(包括远程控制)
  • 支持 11 种语言和时区
  • 个性化用户资料和视图
  • 集成至自动测试环境中(包括远程控制)
  • 支持 11 种语言和时区
  • 冲击方向自动修正
  • 个性化用户资料和视图
  • 集成至自动测试环境中(包括远程控制)
  • 支持 11 种语言和时区
  • 冲击方向自动修正
  • 集成至自动测试环境中(包括远程控制):仅 Equotip Piccolo 2
  • 无需设置语言
PC 软件

基于浏览器的 Equotip Live 解决方案

基于浏览器的 Equotip Live 解决方案

Equotip Link 可提供直接报告和自定义报告

Equotip Link 可提供直接报告和自定义报告

Equotip Link 可提供直接报告和自定义报告

Piccolink 软件(仅 Equotip Piccolo 2)

显示屏

任何 iOS 设备(交货时并未包括)

任何 iOS 设备(交货时并未包括)

7”坚固的彩色触摸屏装置(800 x 480 像素),双核处理器

7“带双核处理器的彩色坚固的触摸屏装置(800×480像素)

7“带双核处理器的彩色坚固的触摸屏装置(800×480像素)

单色 4 位数字

内存

iOS 设备的内存

iOS 设备的内存

内置 8 GB 闪存(> 1000000 个测量值)

内置 8 GB 闪存(> 1000000 个测量值)

内置 8 GB 闪存(> 1000000 个测量值)

32 KB(大约 2000 个读数)(仅限 Equotip Piccolo 2)

连接

用于充电和更新的 USB

用于充电和更新的USB

USB 主机/设备和以太网

USB 主机/设备和以太网

USB 主机/设备和以太网

至 PC 的 USB 接口

测量范围

20 – 2000 HV

150 - 950 HL

20 – 2000 HV

0-100 µm;19-70 HRC;35-1‘000 HV

150 – 950 HL

150 - 950 HL

测量精度

± 2% (150 – 950 HV)

± 4 HL(800 HL 时为 0.5%)

± 2% (150 – 950 HV)

± 0.8 µm; ~ ± 1.0 HRC

± 4 HL(800 HL 时为 0.5%)

± 4 HL(800 HL 时为 0.5%)

标准化

 

Equotip Live UCI

Equotip Live Leeb D

Equotip 550 UCI

Equotip 550 Portable Rockwell

Equotip 550 Leeb

Equotip Piccolo / Bambino 2

标准
  • ASTM A 1038
  • ASTM E 140
  • DIN 50159
  • ISO 18265
  • GB/T 34205-2017
  • ASTM A 956
  • ASTM E 140
  • ASTM A 370
  • ISO 16859
  • JB/T 9378
  • GB/T 17394
  • DIN 50156
  • ASTM A 1038
  • ASTM E 140
  • DIN 50159
  • ISO 18265
  • GB/T 34205-2017
  • DIN 50157
  • ASTM A 956
  • ASTM E 140
  • ASTM A 370
  • ISO 16859
  • DIN 50156
  • GB/T 17394
  • JB/T 9378
  • ASTM A 956
  • ASTM E 140
  • ASTM A 370
  • ISO 16859
  • DIN 50156
  • GB/T 17394
  • JB/T 9378
准则
  • DGZfP 准则 MC 1
  • VDI / VDE 准则 2616 文件 1
  • ASME CRTD-91
  • ASME CRTD-91
  • DGZfP 准则 MC 1
  • VDI / VDE 准则 2616 文件 1
  • Nordtest 技术报告 424-1, 424-2, 424-3
  • ASME CRTD-91
  • DGZfP 准则 MC 1
  • VDI / VDE 准则 2616 文件 1
  • Nordtest 技术报告 424-1, 424-2, 424-3
  • DGZfP 准则 MC 1
  • VDI / VDE 准则 2616 文件 1
  • Nordtest 技术报告 424-1, 424-2, 424-3
  • ASME CRTD-91
  • DGZfP 准则 MC 1
  • VDI / VDE 准则 2616 文件 1
  • Nordtest 技术报告 424-1, 424-2, 424-3
  • ASME CRTD-91
  • DGZfP 准则 MC 1
  • VDI / VDE 准则 2616 文件 1
  • Nordtest 技术报告 424-1, 424-2, 424-3

配件

 

Equotip Live UCI

Equotip Live Leeb D

Equotip 550 UCI

Equotip 550 Portable Rockwell

Equotip 550 Leeb

Equotip Piccolo / Bambino 2

测量配件 
  • Equotip Live Basic Leeb D 冲击装置 (358 00 101)
  • 支撑环组件 (353 03 000)
  • 适用于 D/DC/D+15/C/E/S 的支撑环组(12 件装)
  • Equotip UCI 探头 HV1-HV5 (356 00 700)
  • Equotip UCI 特殊脚 (356 00 720)
  • 电池组 (327 01 033)
  • 快速充电器(外置)(327 01 053)
  • 特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & UCI 套件 (356 10 020), Equotip 550 Leeb D & UCI 套件 (356 10 022)
  • Equotip Portable Rockwell 探头 50N(适用 于 Equotip 550 或 PC)(356 00 600)
  • Equotip Portable Rockwell 测量夹 (354 01 200)
  • Equotip Portable Rockwell Spezialfuss RZ 18 mm - 70 mm (354 01 250)
  • Equotip Portable Rockwell Spezialfuss RZ 70 mm - ∞ (354 01 253)
  • 电池组 (327 01 033)
  • 快速充电器(外置)(327 01 053)
  • 特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & UCI 套件 (356 10 020), Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D 套件 (356 10 021)
  • Equotip Leeb 冲击装置 D (356 00 100)
  • Equotip Leeb 冲击装置 E (356 00 400)
  • Equotip Leeb 冲击装置 G (356 00 300)
  • 适用于 D/DC/D+15/C/E/S 的支撑环组(12 件装) (353 03 000)
  • 电池组 (327 01 033)
  • Equotip Leeb 冲击装置 S
  • Equotip Leeb 冲击装置 DL
  • 快速充电器(外置)(327 01 053)
  • 特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D 套件 (356 10 021), Equotip 550 Leeb D & UCI 套件 (356 10 022)
  • Equotip Piccolo 2/Bambino 2 DL 附件包 (352 95 021)
  • 支撑环组件 (353 03 000)
  • 适用于 D/DC/D+15/C/E/S 的支撑环组(12 件装)
验证工具 

Equotip 测试块 D/DC,~775 HLD / ~56 HRC,Proceq 出厂校准 (357 13 100)

Equotip UCI 测试块 ~850HV,ISO 6507-3 HV5 校准 (357 54 100)

Equotip Portable Rockwell 测试块 ~62 HRC,ISO 6508-3 HRC 校准 (357 44 100)

  • Equotip 测试块 E,<810 HLE / ~63 HRC (357 14 400)
  • Equotip 测试块 G,~570 HLG / ~340 HB (357 32 300)
  • Equotip 测试块 D/DC,<775 HLD / ~56 HRC (357 13 100)

Equotip 测试块 D/DC,~775 HLD / ~56 HRC,Proceq 出厂校准 (357 13 100)

 



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