D8 ADVANCE X- 射线衍射仪

　　布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X- 射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过革命性的TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！

　　高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证！

　　*的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率，而且大幅提高了设备的探测灵敏度。

　　D8 ADVANCE X- 射线衍射仪技术指标：

　　Theta/theta立式测角仪

　　2Theta角度范围：-110~168°

　　角度精度：0.0001度

　　Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管

　　探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器

　　仪器尺寸：1868x1300x1135mm

　　重量：770kg

　　应用

　　物相定性分析

　　结晶度及非晶相含量分析

　　结构精修及解析

　　物相定量分析

　　点阵参数精确测量

　　无标样定量分析

　　微观应变分析

　　晶粒尺寸分析

　　原位分析

　　残余应力

　　低角度介孔材料测量

　　织构及ODF分析

　　薄膜掠入射

　　薄膜反射率测量

　　小角散射