SZ-PME 大颗粒型光电自动数粒仪

SZ-PME大颗粒型光电自动数粒仪可对各种主要粮食作物，如稻、麦、高粱玉米等颗粒进行自动计数，在农科院（所）农业大专院校、种子系统，粮食部门中、考察种子指标，测量千粒重有广泛应用。
SZ-PME-1型
（1） 尺寸:长×宽小于12×4毫米（小颗粒）；
（2） 尺寸:长×宽小于12×10毫米（大颗粒）
尺寸:长×宽小于12×4毫米（小颗粒）
2、 计数精度：±4/1000以速度而定。（标准偏差）
3、 计数速度：小颗粒大于1000粒/3分钟；大颗粒500粒/3分钟
4、 计数容量：1~9999由四位LED数码管直接读数。
5、 自校频率：f=1~2HZ f=10~20HZ.
6、 预置自停：1~9999当中任意数值，置0000不计数。
7、 外接电源220~±20V~50HZ功率小于20瓦，接地良好。
8、 仪器尺寸：304×234×180毫米。
9、 工作环境：
大气压力：750±30毫米汞柱。
环境温度0℃~40℃
相对湿度：20℃时小于80%
连续使用时间：大于四小时。
10、仪器功能：电路自校，任意计数，预置自停，抽门与送料自锁。
SZ-PME大颗粒型光电自动数粒仪主要技术性能

产品简介
1、符合半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法。
2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体，也可测量薄硅片电阻率及方阻。
3、电阻率测量范围复盖最常用的区段：0.01—199.9Ω·cm。（可添加电阻率小于0.5Ω·cm的报警功能）
     方块电阻测量范围复盖最常用的区段：0.1—1999Ω/□。（可添加方块电阻小于5Ω/□的报警功能）
4、配置高精度恒流源，测量电流稳定，分两档：1mA、10mA，每档均可在大范围内调节（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。
5、测量精度高：电器测量精度优于0.3%；
     整机测量误差：测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。
     测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。
6、重量轻，约2.5kg；体积小：240×210×100（mm）。
7、可配用多种探针间距的四探针头：1.00mm、1.59mm。