日立仪器FT110膜厚测试仪

膜厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

日立仪器FT110膜厚测试仪，与以往的膜厚仪相同，适用于各种应用程序，同时通过增加新功能以提高可操作性和测量性能，从而大幅缩短从准备样品到完成所有处理的时间。

日立仪器FT110膜厚仪采用新FP法，高精度化在没有标准物质的情况下也能测量。支持阶梯测量进一步提高波峰离能力，测量精度更高。对于存在阶梯或高度差的样品采用自动对焦系统和新FP法，可以在不处理样品、不更改条件设置的情况下进行测量。（适用于80mm以内的阶梯或高度差）

日立仪器FT110膜厚测试仪规格
测量元素：钛Ti 22到铀U92
X射线管：W靶材，管电压50kv 管电流1mA
检测器：比例计算管
准直器：Φ0.1、Φ0.2mm
样品观察：CCD摄像头

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