WT-2000 平流式溶气加压气浮实验装置

平流式溶气加压气浮实验装置 加压气浮实验装置 型号：WT-2000

平流式溶气加压气浮实验装置工作条件：
环境温度：5℃～40℃、处理水量：0.3m3/h， 做实验前一定配置好污水加药混凝沉淀及仪器（包括）浊度仪、烘箱、量筒、烧杯等。电源 220V。
实验目的：
气浮法是进行固体分离的一种主要方法，常被用于分离密度小于或接近于水，难以用重力自然沉降法去除的悬浮颗粒。气浮方法很多，本实验装置采用加压溶气法。由于悬浮颗粒的性质和浓度、微气泡的数量和直径等多种因素对气浮效率有影响，因此，气浮处理系统的设计运行参数常要通过试验确定。通过实验希望达到下述目的 ：
1、深化对加压溶气气浮系统及其各部分的组成，运行过程及其操作和控制要点，溶气水 释放的表现特征及浮渣的形成的理解。
2、加深对悬浮颗粒浓度、操作压力、气固比、释气量与澄清效果间的关系的理解。
实验流程原理：
进行气浮时，用水泵将污水抽水送至压力为2—4个大气压的溶气 罐中，同时注入加压空气。空气在罐内溶解于加压的清水或经处理的回流水中，然后使经过溶气的水（溶气水）通过减压阀（或释放器）进水气浮池 ，此时由于压力的突然降低，溶解于加压的水中的空气便以微气泡的形式从水中释放出来。微细气泡在上升的过程中附着悬浮颗粒上，使颗粒的密度减小，上浮到气浮池的表面与水分离，而使杂质从水中得以去除。
技术指标及参数：
1、环境温度：5℃～40℃
2、处理水量0.3m3/h，溶气压力0.2～0.4 Mpa，回流比30%
3、溶气罐为不锈钢制；
4、设计进、出水、浊度等： 进水 出水
浊度：50°～100° 5°～15°
颗粒杂质：20～80mg/L 2～8 mg/L
pH 6～9 6～9
5、反应池尺寸：长×宽×高=1100mm×400mm×600mm 有机玻璃壁厚度10 mm
6、装置外形总尺寸：长×宽×高=1500mm×450mm×1600mm
7、电源 220V单相三线制 功率500W

本方阻测试新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护，在宽广的量程范围内，使各种电子薄膜能得到准确、无损的方块电阻测量结果。 
由于新型薄膜材料种类繁多，研制过程中样品性能变化较大，而且各种薄膜的机械强度，允许承受的电压、电流均不相同，因此KDB-1型测试仪可为用户量身定制各种特定探针压力及曲率半径的探针头，仪器的测试电流分7档，可由0.4μA增加到大为1000mA，测试电压可由8V增加到80V，测试电压和测试电流均可连续调节，给薄膜、涂层的研制者提供了一个摸索测试条件的宽阔空间。 
由于仪器设有恒流源开关，并且所有电流档在探针与样品接触后均有电流延时接通的功能，充分保护了样品表面不会因为探针接触时产生的电火花而受到损坏。 
仪器性能 
方阻测量范围：1×10-5～2×106Ω/□，小分辨率1×10-5Ω/□； 
电阻率测量范围：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m； 
探针压力：25g～250g； 
探针曲率半径：25μm～450μm 
（注：探针压力及曲率半径可根据薄膜材料性能及用户需求定制）； 
测试电流分7档：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA； 
测试电压：（1μA～10 mA档）12～80V连续可调 
           （100mA档）    8～36V连续可调 
          （1000mA档）    8～15V连续可调； 
测量方式：手动或自动（配置测试软件）； 
测量对象：导电薄膜、半导体薄膜、电力电容器铝箔、各种金属箔、银浆涂层、锂电池隔膜等各种新型电子薄膜；各种半导体材料的电阻率。