USPMⅢ 奥林巴斯 镜片反射率测定仪 USPMⅢ
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- 公司名称 仪景通光学科技（上海）有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奥林巴斯
- 型号 USPMⅢ
- 产地 日本
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2024/3/19 12:31:57
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| 产地类别 | 进口 |
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USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪
USPM-RU III反射仪可精确测量当前分光仪无法测量的微小、超薄样本的光谱反射率，不会与样本背
面的反射光产生干涉。是适合测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统。
消除背面反射光
采用特殊光学系统，消除背面反射光。
不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。
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可测定微小区域的反射率
用物镜对焦于样本表面的微小光斑（?60 μm），可以测定镜片曲面及镀膜层是否均匀。 -
测定时间短
由于使用了Flat Field Grating（平面光栅）和线传感器的高速分光测光机构，可以进行快速、再现性很高的测定。 -
支持XY色度图、L*a*b*测定
可以依据分光测色法，通过分光反射率测定物体颜色。 -
可以测定高强度镀膜的膜厚
采用干涉光分光法，可以在不接触、无损的情况下测定被检物的膜厚（单层膜）。
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