奥林巴斯 近红外显微分光测定仪 USPM-RU-W
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 仪景通光学科技(上海)有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奥林巴斯
- 型号
- 产地 日本
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2024/3/19 12:30:23
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产品标签
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仪器原理 | 多通道傅立叶变换型 | 仪器种类 | 实验室级别 |
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从380nm~1050nm的可视光至近红外实现大范围波长区域中的分光测定
奥林巴斯的近红外显微分光测定仪USPM-RU-W可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率,因此适用于光学元件与微小的电子部件等产品。
测定反射率
测定以物镜聚光的Φ17~70μm的微小点的反射率。
反射率测定光路图
反射率测定例:镜片 反射率测定例:镜片周边部位
测定膜厚
活用反射率数据,测定约50nm~约10μm的单层膜、多层膜的膜厚。
膜厚测定的图例
测定物体颜色
根据反射率数据显示XY色度图、L*a*b*色度图及相关数值。
物体色的测定图例
多样化应用
通过测定球面、非球面的镜片、滤镜、反射镜等光学元件的反射率,进行涂层评价、物体颜色测定、膜厚测定。
数码相机镜片 /投影仪镜片 / 眼镜片
适用于LED反射镜、半导体基板等微小电子部件的反射率测定、膜厚测定。
LED包装 /半导体基板
适用于平面光学元件、彩色滤镜、光学薄膜等的反射率测定、膜厚测定、透过率测定。
液晶彩色滤镜 /光学薄膜
适用于棱镜、反射镜等45度入射产生的反射率测定。
棱镜 /反射镜
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