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化工仪器网>产品展厅>光学仪器及设备>电子显微镜>透射电子显微镜(透射电镜/TEM)>JSM-7800F 场发射电镜

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JSM-7800F 场发射电镜

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怡星公司成立于2004年,主要从事专业仪器代理。从业十年来获得国内广大客户的信赖与支持。我们的服务项目包括仪器销售丶维修丶保养丶实验技术开发丶应用技术开发等等。我的团队拥有*的知识丶丰富的经验丶热诚的服务态度,是您选购仪器设备的Z佳夥伴。

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营业据点

东莞市协美电子有限公司

东莞市协美电子有限公司 怡星(中国)有限公司

怡星公司Star Joy Limited在华转投资机构包括:怡星(中国)有限公司,其子公司为东莞市协美电子有限公司。营业办事处包括上海丶东莞丶香港丶台北等地区。为您提供*的优质服务。

JEOL 日本电子

怡星(中国)有限公司

怡星Star Joy Limited

东莞市协美电子有限公司Star Joy Limited主要代理JEOL 日本电子SEM、OXFORD 英国牛津、日本RHESCA公司产品,并提供使用客户仪器相关技术转移及专业的维修保养。让您享受进口仪器的优越性能及怡星的在地优质服务。


JSM-7800F Prime场发射电子显微镜

JSM-7800F Prime采用新开发的超高分辨率GBSH模式,达到了世界zui高水准的分辨率。浸没式肖特基Plus电子枪,将zui大探针电流从200nA提高到了500nA。

浸没式肖特基Plus场发射电子枪

电子枪和低像差聚光镜的优化组合,实现了更高的亮度,能有效采集电子枪中发射的电子,即使在低加速电压下也能获得数 pA~数10 nA 探针电流,保持zui小的物镜光阑就可以进行纳米尺寸的高分辨率观察、快速元素面分布及EBSD分析。

JSM-7800F Prime场发射扫描电子显微镜
JSM-7800F Prime场发射扫描电子显微镜

利用GBSH(GENTLE BEAM SUPER HIGH RESOLUTION)观察样品表面

以前的GB※模式经过改进后,可以对样品施加更高的电压,这样在低加速电压下也能获得超高分辨率的图像。从样品的浅表面观察到纳米尺寸的元素分析,GBSH能根据各种不同的应用选择加速电压。※Gentle Beam(GB) 通过给样品加以偏压(GB),对入射电子有减速、对释放出的电子有加速作用。

通过GENTLE BEAM (即柔和光束GB模式)观察样品的浅表面

给样品加以偏压(GB),对入射电子有减速、对释放出的电子有加速作用。即使入射电子束到达样品时的能量很低,也可以获得高分辨率、高信噪比的图像。如果利用能施加更高偏压的GB模式,用数十电子伏能量的入射电子束,就可以进行更高分辨率的观察。

JSM-7800F Prime场发射扫描电子显微镜
JSM-7800F Prime场发射扫描电子显微镜

通过多个检测器获取样品的所有信息

JSM-7800F配有四种检测器:高位检测器(UED) 、高位二次电子检测器(USD)、背散射电子检测器(BED)和低位检测器(LED)。UED过滤器的电压不同,二次电子和背散射电子的数量会改变,因此可以选择电子的能量,USD检测被过滤器弹回的低能量电子,BED通过检测低角度的背散射电子,能清楚地观察通道衬度。利用LED的照明效果能够获得含有形貌信息的、富有立体感的图像。

 

应用实例

利用GBSH进行观察

JSM-7800F Prime 标配了GBSH模式。下图是高定向热解石墨(HOPG)解理面的二次电子像,到达样品时的能量为1keV,左图中样品偏压为-2kV,右图中样品偏压为-5kV。 可以看出利用GBSH(样品偏压-5 kV)模式观察,HOPG的微细结构更加清晰,达到的分辨率更高。

以前的技术 样品偏压2KV

技术 样品偏压5KV

 

产品规格

分辨率 0.7 nm(15 kV)
0.7 nm(1 kV)
3.0 nm (15kV、5nA、WD10mm)
倍率 ×25 ~ ×1,000,000(SEM)
加速电压 0.01kV ~ 30kV
样品照射电流(探针电流) 数pA~500nA
自动光阑角*控制透镜 内置
检测器 高位检测器(UED)
低位检测器(LED)
能量过滤器 UED过滤器电压可变功能内置
Gentle Beam (GB模式即柔和光束) (样品偏压) 内置
数字图像 1,280 x 960 像素, 800 x 600 像素
样品交换室 由TYPE2A构成
样品台 全对中测角样品台、5轴马达驱动
X-Y X:70mm, Y:50mm
倾斜 -5 ~ +70°
旋转 360°
工作距离 2mm to 25mm
真空系统 SIP 2台、TMP、RP
节能设计 正常运行时: 1.3kVA
节能模式时: 0.8kV

 

JSM-7800F的物镜采用的是静电场和静磁场叠加的超级混合式物镜(SHL),由于减少了色差及球差,*地提高了低加速电压下的分辨率。此外,SHL不会对样品形成磁场影响,因此观察磁性材料的样品和进行EBSD测试可以不受制约。



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