GENESIS X-射线能谱仪

技术参数
1.探头分辨率优于129eV,峰背比优于20000:1
2.检测元素范围Be4 - U92
3.zui大计数率500,000cps
4.zui大图象采集分辨率8192x6400象素
5.zui大面分布图采集分辨率2048x1600象素
主要特点
1.探头指标高，性能好，寿命长。
2.全新32位软硬件系统，工作可靠，效率高。
3.具有操作引导的集成式界面，使用直观方便。
4.具有多种专有技术软件，分析精度高。
5.软件种类及功能丰富，且具有报告生成系统。
仪器介绍
 GENESIS能谱仪是高性能能谱仪的代表，其秉承了EDAX公司PHOENIX能谱仪指标高、性能好、寿命长，使用方便的特点，并更上一层楼。EDAX能谱仪已广泛应用于国内外各种型号的扫描电镜和透射电镜，并且可以同EDAX公司的OIM（电子背散射衍射取向成像分析系统）和ACT（自动晶体学分析系统）构成一体化分析系统。