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化工仪器网>产品展厅>物理特性分析仪器>测厚仪>镀层测厚仪> 日本KETT LE-200J系列膜厚计(涂镀层测厚仪)

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日本KETT LE-200J系列膜厚计(涂镀层测厚仪)

参考价 ¥ 14500
订货量 ≥1
具体成交价以合同协议为准

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      深圳市泰立仪器仪表有限公司成立于2005年,无损检测仪器配套方案提供商,专业从事:磁导率测量、电导率测量涡流漏磁、超声、射线、金相、光谱、材料检测...测试仪器仪表设备的代理、销售和服务工作。并与国外杰出仪表生产厂商有着广泛的技术与销售合作的良好基础。德国FOERSTER霍释特、德国NewSonic、德国Optisense、以色列 ScanMaster、美国Dakota达高特、英国SONATEST声纳、英国ETHER NDE易德、美国GE通用、等公司的中国区销售代理。产品广泛应用于工业、电子、半导体、太阳能、医药、能源等各个领域,并服务于各大企业、院校、研究所、检测机构及政府部门等。







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日本KETT LE-200J系列膜厚计涂镀层测厚仪)详细介绍:

本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

日本KETT LE-200J系列膜厚计涂镀层测厚仪)技术参数:

规格型号

LE-200J

LH-200J

LZ-200J

测定对象

磁性金属上非磁性涂镀层

非磁性金属上绝缘层

磁性金属上非磁性涂镀层非磁性金属上绝缘层

测定范围

0~1500um
或0~60.0mils

0~800um
或0~32.0mils

0~1500um
或0~60.0mils

测定精度

<50um±1um , >50um±2%

分 辨 率

<100um 0.1um , >100um 1um

功能统计

可设定上/下限数值,可分批统计zui大值、zui小值、平均值、标准差。
数据可存储,可连接电脑,内置打印机、即时打印

计量单位

公制、英制可自由切换

显示方式

LCD液晶屏

操作面板

密封防水多功能数字键盘

随机附件

基体/校正标准片/电池/皮套/说明书/稳压电源/打印纸

电 源

DV6V 5#碱性电池×6个(打印机另需4个),可接稳压电源

体 积

175mm(W)×245(mmD)×31mm(H)

重 量

1100g

咨询:日本KETT LE-200J系列膜厚计涂镀层测厚仪 



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