激光诱导击穿光谱仪 TSI LIBS

一．     激光诱导击穿光谱仪  TSI LIBSTSI ChemReveal LIBS简介

什么是LIBS

LIBS是Laser-Induced Breakdown Spectroscopy （激光诱导击穿光谱仪）的简称。LIBS使用高峰值功率的脉冲激光照射样品，光束聚焦到一个很小的分析点（通常10-400微米直径）。在激光照射的光斑区域，样品中的材料被烧蚀剥离，并在样品上方形成纳米粒子云团。由于激光光束的峰值能量是相当高的，其吸收及多光子电离效应增加了样品上方生成的气体和气溶胶云团的不透明型，即便只是很短暂的激光脉冲激发。由于激光的能量显著地被该云团吸收，等离子体逐渐形成。高能量的等离子体使纳米粒子熔化，   激光诱导击穿光谱仪  TSI LIBST将其中的原子激发并且发出光。原子发出的光可以被检测器捕获并记录为光谱，通过对光谱进行分析，即可获得样品中存在何种元素的信息，通过软件算法可以对光谱进行进一步的定性分析（例如材料鉴别，PMI）和定量分析（例如，样品中某一元素的含量）。

   激光诱导击穿光谱仪  TSI LIBST元素分析的前沿科技 

ChemReveal^TM  台式LIBS激光诱导击穿光谱仪为几乎所有固体样品中的几乎所有元素的鉴定和分析提供了一种简单直接的方法。事实上，这种化学分析解决方案相比传统的元素分析方法具有以下难以超越的优势： 

      激光诱导击穿光谱仪  TSI LIBST几秒内快速直接检测

ChemReveal^TM 台式LIBS激光诱导击穿光谱仪可直接快速地对固体进行化学分析，而几乎不需制备样品。与ICP不同，LIBS无需繁杂的溶解过程，可直接分析固态样品。   

   宽泛的元素检测范围

   激光诱导击穿光谱仪  TSI LIBST当需要检测Al、Mg、C等轻元素时，或是制备样品时间不够的情况下，LIBS是替代XRF的*选择。事实上，ChemReveal^TM 台式LIBS激光光谱仪可用来检测元素周期表中原子序数z≥1(氢)的所有元素。尤其适合以下检测：使用惰性气体排除背景干扰，可检测有机元素(C, H, O, N)的含量；一些尺寸小以及要求激光脉冲聚焦更深的不便于检测的样品；直径小到5 μm的特征形貌的化学组成分析。    

    几乎可检测所有的固态样品

ChemReveal^TM台式LIBS激光诱导击穿光谱仪在固态材料的多样性和兼容性方面弥补了其他元素分析仪的不足。除了常规物质的检测，TSI的解决方案可以*胜任对非晶材料、粉末、以及绝缘材料的检测与分析，不仅如此，该仪器甚至可对材料进行微米尺度的微区分析与厚度轮廓分析。

   激光诱导击穿光谱仪  TSI LIBST LIBS 与其它元素方法的比较

   激光诱导击穿光谱仪  TSI LIBST

ChemReveal^TM 台式激光诱导击穿光谱分析仪是元素分析技术的*选择

其它元素分析技术通常只为用户提供其中一至两种好处。而在冶金、制药、陶瓷/玻璃、镀层/薄膜、地质/煤炭、宝石等各种不同应用中能同时为用户提供快速检测、元素检测范围宽、样品基体形态多样性三大利益的元素分析解决方案只有一个：ChemReveal^TM 台式LIBS激光诱导击穿光谱仪。 

    激光诱导击穿光谱仪  TSI LIBST

二．     TSI ChemReveal 台式LIBS检出限和定量分析

LIBS检出限很大程度上取决于被测样品的类型、具体哪些元素、以及仪器的激光器/光谱检测器的选型配置。基于以上原因，LIBS的检出限可以从几ppm一直到%级的范围。在大多数常规应用中，对于绝大多数元素，LIBS检出限可以做到10 ppm到100 ppm。在定量分析中，通过LIBS获得的测量结果的相对标准偏差可以达到3-5%以内，而对于均质材料通常可以到2%以内甚至<1%。

LIBS通常的检出限：

Li, Be, B, Na, Mg, Al, K, Ca等元素                           >10ppm (即0.001%)

Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Mo等元素          >100ppm (即0.01%)

C, N, O, P, Si等元素                                                      >200ppm (即0.02%)

F, Cl, Br, S等元素                                                          >0.5%

   激光诱导击穿光谱仪  TSI LIBST