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飞驰(北京)科学仪器有限公司

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Nicomp 380 Z3000 Nicomp Z3000激光粒度仪及ZETA电位分析仪

参考价300000-500000/件
具体成交价以合同协议为准

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奥法美嘉(Alpharmaca)科技有限公司于2010年在上海成立,立足于医药行业,耕耘于纳米科学材料,化工,半导体,环境科学,汽车,过滤,涂料,墨水,油品等行业,以的纳米微米检测技术,“粒度分析,专注客户体验”。这已经成为奥法美嘉团队的信条。

借助于20多年的行业积累和技术储备,奥法美嘉将世界上处于技术地位的美国PSS粒度仪公司的激光粒度仪引入到中国市场,秉承着“传授粒度真知”“普及粒度知识”的理念,伴随着纳米知识的普及,伴随着中国经济向制造业的转型,经过短短几年,奥法美嘉科技有限公司作为美国PSS粒度仪公司在中国的代表,从COE的建立运营,到如今覆盖全中国销售网络和售后服务网络,不仅用真诚的态度,而且用务实的知识,获得了广大客户的*好评。

Particle Solutions srl(意大利PSI均质机公司)位于意大利海滨工业城镇拉齐奥地区,毗邻历史的古城罗马,由从事粒度相关领域内的欧洲科学家以及工程师所组成的团队发起创立。公司团队拥有25年粒度检测知识积累,15年仪器工业设计经验,15年高压均质技术经验及应用研究。

通过深入发掘客户需求和应用难点,PSI团队研发出了新型高压微射流均质机,其稳定可控的均质压力及高剪切力了工艺可线性放大且可大产量需求,低噪音的设计理念可大大减缓传统工艺中的高噪音对于操作人员的不利影响,小巧紧凑的机身设计可以*适应从实验室研发到中试及大生产的各种工作场景。自组建以来,团队累积了医药,生物,半导体,新材料等行业的相关应用经验。

现奥法美嘉综合PSS粒度仪和PSI均质机,为中国制造业提供纳米技术领域内从生产研发设备到检测仪器的整套解决方案。

 

企业文化(Company Philosophy)

 

“共享 共建 共发展”“求诚 求信 求真知”

 

现代企业的发展趋势为规范化、化、文明化、个性化。伴随着中国经济的快速发展和腾飞,中国社会的各个层面在发生翻天覆地的变化,“中国制造”的标签也会逐渐演变为“中国创造”。而企业的发展创造依靠的就是人才!人才是一切发展的基石和动力。这反过来对“人才”从素养,知识,认知,理念等各方面提出了新的要求和高度。

奥法美嘉一直秉承“共享 共建 共发展”的用人理念,“求诚 求信 求真知”的做事理念。在寻求高素质人才的同时,更加注重于已入职员工的培养。员工入职从基础的医药行业准入知识开始培训,覆盖知识技能培训,商务技能培训,职业规划到人生规划。公司的目标之一是希望每个人都能成为合格的项目经理,成为一名有理想有追求有素养的职场人,且能够独当一面,实现自己的人生价值!

 

 

 

 

 

 

 

 

纳米粒度仪,颗粒计数器,不溶性微粒检测仪,在线粒度检测仪,高压微射流均质机,Zeta电位与粒径分析仪,大乳粒分析仪,粒度仪,激光粒度仪,纳米激光粒度仪

产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 医疗卫生,化工,生物产业,电子,制药

Nicomp Z3000激光粒度仪及ZETA电位分析仪
专为复杂体系提供高精度粒度解析方案
基本信息

图片1.png

仪器型号:Nicomp Z3000激光粒度仪及ZETA电位分析仪

工作原理:

粒度分布:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)

ZETA电位:多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)

检测范围:

粒径范围 0.3nm-10.0μm

ZETA电位 +/- 500mV


Nicomp 380 Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,同机采用多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)检测ZETA电位。粒径检测范围 0.3nm – 10μm,ZETA电位检测范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯( Gaussian)单峰算法和 Nicomp 多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有*优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极,一个电极可以使用成千上万次。另外,采用可变电场适应不同的样品检测需求。既检测精度,亦帮用户大大节省检测成本。



技术优势


1、APD-LDC&PMT双检测器;

2、可搭配不同功率光源;

3、双列直插式电极和样品池,可反复使用成千上万次;

4、钯电极;

5、精度高,接近样品真实值;

6、复合型算法:


相位分析法(PALS)和频谱分析法(FALS)自由切换

7、快速检测,可以追溯历史数据;

8、结果数据以多种形式和格式呈现;

9、符合USP,CP等个多药典要求;

10、无需校准;

11、复合型算法:

(1)高斯(Gaussion)单峰算法与Nicomp多峰算法自由切换

12、模块化设计便于维护和升级;

(1)可自动稀释模块;

(2)搭配多角度检测器;

(3)自动进样系统(选配);



Snipaste_2019-11-29_10-13-52.pngNicomp多峰分布概念


基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器所*的两个主要特点,Nicomp人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布,这和实践生产生活中不相符,因为现实中很多样本是多分散体系,非单分散体系,而且高斯分布灵敏性不足,分辨率不高,这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论,大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。


图一:Nicomp多分分布数据呈现


如图一:此数据为Nicomp人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检测项目为:高密度脂蛋白,低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白,由图中可以看出,其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm;29.3nm和217.5nm。由此可见,Nicomp分布模式可以有效反应多组分体系的粒径分布。



Snipaste_2019-11-29_10-13-52.pngNicomp多峰分布优势

Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果,更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实状况。依托于Nicomp系列仪器一系列的算法和高灵敏性的硬件设计,Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。

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图二:高斯分布及Nicomp多峰分布对比图

如图二:此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布(Gaussian)结果,右图为Nicomp多峰分布算法结果,两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间,却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰,即如数据呈现,体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近,这和实际情况相符。


为满足不同客户的实际检测需求,我司的Nicomp 380 N3000会配备相应的配置,旨在为客户们在控制成本的基础上,得到需求的解决方案,取得收益。


产品优势



Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png模块化设计

Nicomp 380纳米激光粒度仪是在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的粒度仪。随着模块的升级和增加,Nicomp 380的功能体系越来越强大,可以用于各种复杂体系的检测分析。


Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png自动稀释模块

自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差,且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度,这大大缩短了测试者宝贵时间,且无需培训,测试结果重现性好,误差率<1%。


Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png380/HPLD大功率激光器

美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中,考虑到在各种实验测试条件中不同的需求,对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对小粒子也能搜集到足够的散射信号,使得仪器能够得到小粒子的粒径分布。同样,大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助,比如在检测右旋糖酐大分子时,折射率的特性会引起光散射强度不足。

因为大功率激光器的特性,会弥补散射光强的不足和衰减,测试微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离,Nicomp 380纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。


Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png雪崩二极管 (APD)高灵敏度检测器

Nicomp 380纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和雪崩二极管检测器(相比较传统的光电倍增管有3-5倍放大增益效果)。

APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度,如蛋白质、不溶性胶束、浓度低的体系以及大分子基团,他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低,这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块,在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。


Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png380/MA多角度检测器

粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 380可以配备范围在10°-175,步长0.7°的多角度测角器,从而使得单一90°检测角测试不了的样品,通过调节角度进行检测,改善对大粒子多分散系粒径分析的精度。






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